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深亚微米MOS场效应晶体管小信号及噪声建模技术研究

摘要第6-7页
ABSTRACT第7页
缩略词术语注释表第10-11页
第一章 绪论第11-20页
    1.1 引言第11-14页
    1.2 MOSFET模型研究现状第14-16页
    1.3 MOSFET模型建立的方法第16-18页
    1.4 论文的主要结构和创新点第18-20页
第二章 MOSFET小信号模型与噪声模型第20-29页
    2.1 MOS器件的小信号模型第20-22页
        2.1.1 忽略衬底效应的小信号模型第21页
        2.1.2 考虑衬底效应的小信号模型第21-22页
    2.2 MOS器件的噪声模型第22-26页
        2.2.1 PUCEL噪声模型第22-24页
        2.2.2 POSPIESZALSKI噪声模型第24-25页
        2.2.3 BSIM3v3噪声模型第25页
        2.2.4 PSP噪声模型第25-26页
    2.3 MOS器件的噪声源第26-28页
        2.3.1 沟道噪声第26-27页
        2.3.2 栅极感应噪声第27页
        2.3.3 栅极电阻噪声第27-28页
    2.4 本章小结第28-29页
第三章 MOSFET小信号模型参数提取与仿真第29-54页
    3.1 焊盘与互连线去嵌技术第29-34页
    3.2 寄生元件参数提取第34-37页
    3.3 晶体管参数提取第37-45页
        3.3.1 串联寄生电阻参数提取第39-41页
        3.3.2 R_(sub)和C_(sub)参数提取第41-42页
        3.3.3 本征参数提取第42-45页
    3.4 小信号模型仿真及分析第45-46页
    3.5 小信号模型可缩放性分析第46-48页
    3.6 考虑非准静态效应的小信号模型第48-53页
    3.7 本章小结第53-54页
第四章 MOSFET噪声参数提取技术第54-67页
    4.1 二端口噪声网络第54-58页
        4.1.1 阻抗噪声相关矩阵第55-56页
        4.1.2 导纳噪声相关矩阵第56-57页
        4.1.3 ABCD噪声相关矩阵第57-58页
    4.2 噪声矩阵转换技术第58-61页
    4.3 噪声模型参数提取第61-66页
    4.4 本章小结第66-67页
第五章 噪声模型仿真结果和分析第67-70页
    5.1 噪声源的参数分析第67-68页
    5.2 仿真结果分析第68-69页
    5.3 本章小结第69-70页
第六章 总结与展望第70-73页
    6.1 总结第70-71页
    6.2 展望第71-73页
附录第73-74页
参考文献第74-78页
致谢第78页

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