摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
1.1 研究背景与意义 | 第8-9页 |
1.1.1 研究背景 | 第8-9页 |
1.1.2 研究意义 | 第9页 |
1.2 可靠性分析研究现状 | 第9-10页 |
1.2.1 SFTA分析 | 第9-10页 |
1.2.2 FMEA分析 | 第10页 |
1.3 虚拟样机技术研究现状 | 第10-11页 |
1.4 本文研究内容及安排 | 第11-13页 |
2 侵彻引信专用测试系统及其可靠性分析 | 第13-24页 |
2.1 侵彻引信专用测试系统构成 | 第13页 |
2.2 侵彻引信电路部件检测仪 | 第13-17页 |
2.2.1 检测仪的检测任务与工作流程 | 第13-15页 |
2.2.2 检测仪硬件系统 | 第15-16页 |
2.2.3 检测仪软件系统 | 第16-17页 |
2.3 引信电路部件检测仪软件可靠性分析 | 第17-21页 |
2.3.1 软件系统可靠性分析——软件故障树 | 第17-18页 |
2.3.2 软件故障树建模步骤 | 第18-20页 |
2.3.3 软件故障树分析方法 | 第20-21页 |
2.4 引信电路部件检测仪硬件可靠性分析 | 第21-23页 |
2.4.1 硬件系统可靠性分析——FMEA | 第21页 |
2.4.2 FMEA分析法原理与方法 | 第21-23页 |
2.5 本章小结 | 第23-24页 |
3 侵彻引信电路部件检测仪软件可靠性分析及性能提高 | 第24-37页 |
3.1 检测仪上位机软件可靠性分析 | 第24-31页 |
3.1.1 检测仪上位机软件数据反馈模块故障树建模 | 第24-29页 |
3.1.2 软件故障树的定性分析 | 第29-30页 |
3.1.3 软件故障树的定量分析 | 第30页 |
3.1.4 软件故障树可靠性分析结论 | 第30-31页 |
3.2 检测仪软件系统的性能提高 | 第31-36页 |
3.2.1 上位机软件数据装定/反馈模块的性能提高 | 第31-34页 |
3.2.2 上位机软件滤波模块的性能提高 | 第34-36页 |
3.3 本章小结 | 第36-37页 |
4 侵彻引信电路部件检测仪硬件可靠性分析及性能提高 | 第37-48页 |
4.1 检测仪硬件电路可靠性分析 | 第37-44页 |
4.1.1 检测仪硬件电路FMEA系统定义 | 第37-38页 |
4.1.2 故障判据 | 第38页 |
4.1.3 确定故障模式的风险因子 | 第38-39页 |
4.1.4 检测仪硬件电路FMEA分析表 | 第39-42页 |
4.1.5 检测仪硬件电路FMEA可靠性分析 | 第42-43页 |
4.1.6 检测仪硬件电路FMEA可靠性分析结论 | 第43-44页 |
4.2 检测仪硬件系统的性能提高 | 第44-47页 |
4.2.1 检测仪硬件电路电源模块的性能提高 | 第44-46页 |
4.2.2 检测仪硬件电路抗干扰的性能提高 | 第46-47页 |
4.3 本章小结 | 第47-48页 |
5 传感器检测系统的性能提高 | 第48-61页 |
5.1 侵彻弹引信用加速度传感器的特点 | 第48-49页 |
5.2 ADAMS仿真 | 第49-50页 |
5.2.1 ADAMS建模与仿真步骤 | 第49-50页 |
5.2.2 多刚体系统动力学模型 | 第50页 |
5.3 基于ADAMS的落锤冲击试验台仿真与优化 | 第50-60页 |
5.3.1 原落锤冲击试验台结构 | 第51页 |
5.3.2 原落锤冲击试验台性能分析 | 第51-53页 |
5.3.3 原落锤冲击试验台的动力学仿真 | 第53-57页 |
5.3.4 结构优化 | 第57-58页 |
5.3.5 优化验证 | 第58-60页 |
5.4 本章小结 | 第60-61页 |
6 侵彻引信专用测试系统优化实验验证 | 第61-66页 |
6.1 引信电路部件检测仪优化实验验证 | 第61-63页 |
6.2 传感器检测仪优化实验验证 | 第63-65页 |
6.2.1 检测结果可靠性实验验证 | 第63-64页 |
6.2.2 检测结果一致性实验验证 | 第64-65页 |
6.3 本章小结 | 第65-66页 |
7 总结与展望 | 第66-68页 |
7.1 全文总结 | 第66-67页 |
7.2 研究展望 | 第67-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
附录 | 第73页 |