| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-24页 |
| ·选题意义以及应用背景 | 第16-18页 |
| ·存储器的分类 | 第16-17页 |
| ·嵌入式存储器的广泛应用及其重要性 | 第17-18页 |
| ·半导体测试的简介 | 第18-21页 |
| ·测试的重要性和经济性 | 第18-19页 |
| ·测试的设备简介和测试方法 | 第19-21页 |
| ·研究内容 | 第21-24页 |
| 第二章 嵌入式SRAM存储器的测试 | 第24-38页 |
| ·嵌入式SRAM存储器的结构 | 第24-27页 |
| ·嵌入式SRAM存储器的故障模型 | 第27-29页 |
| ·嵌入式SRAM的测试算法 | 第29-33页 |
| ·嵌入式SRAM存储器的测试方法 | 第33-37页 |
| ·测试嵌入式存储器的困难 | 第33-35页 |
| ·嵌入式微处理器访问 | 第35-36页 |
| ·直接访问嵌入式存储器 | 第36页 |
| ·MBIST方法 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 嵌入式SRAM存储器的冗余修复结构 | 第38-50页 |
| ·存储器冗余修复的基本概念和重要性 | 第38-41页 |
| ·存储器量产增益计算工具(MPGC) | 第39页 |
| ·局部冗余和全局冗余 | 第39-41页 |
| ·存储器的全局冗余修复（GSER）的基本结构及原理 | 第41-49页 |
| ·全局冗余修复的基本结构 | 第41-44页 |
| ·全局冗余修复的基本原理 | 第44-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 基于J750平台的测试程序及硬件测试板卡的开发 | 第50-72页 |
| ·J750测试平台 | 第50-54页 |
| ·J750的硬件结构 | 第50-51页 |
| ·软件平台及程序结构 | 第51-54页 |
| ·嵌入式SRAM存储器测试程序的开发 | 第54-63页 |
| ·设定测试条件 | 第54-56页 |
| ·生成测试向量 | 第56-57页 |
| ·MBIST和GSER测试流程概况 | 第57-58页 |
| ·J750程序中GSER测试流程的开发 | 第58-63页 |
| ·基于J750测试机台的探针卡（Probe Card）开发 | 第63-70页 |
| ·探针卡（Probe Card）基本概念 | 第63-64页 |
| ·设计时常见的DIB错误[32]： | 第64-67页 |
| ·探针卡（Probe Card）的设计 | 第67-70页 |
| ·本章小结 | 第70-72页 |
| 第五章 测试结果分析及测试程序优化 | 第72-80页 |
| ·嵌入式SRAM存储器测试结果的分析 | 第72-74页 |
| ·具有MBIST和GSER结构的测试程序的优化 | 第74-78页 |
| ·本章小结 | 第78-80页 |
| 第六章 总结和展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 作者简介 | 第88-89页 |
