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DSP总剂量效应测试系统设计

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
第一章 绪论第8-16页
   ·研究背景与意义第8页
   ·总剂量效应第8-10页
     ·总剂量效应机理第9页
     ·总剂量效应对器件的影响第9-10页
   ·总剂量实验的国内外现状第10-13页
     ·国内总剂量实验研究现状第10-12页
     ·国外总剂量实验研究现状第12-13页
   ·论文主要工作与组织安排第13-16页
第二章 DSP 总剂量实验系统设计要求及总体方案第16-26页
   ·DSP 基本构成及结构特点第16-17页
   ·DSP 总剂量实验系统设计要求第17-19页
     ·总剂量实验方案要求第17-18页
     ·DSP 最小系统要求第18页
     ·其他要求第18-19页
   ·DSP 总剂量实验系统总体设计方案第19-22页
     ·电源模块方案第20页
     ·总剂量效应辐照试验板模块方案第20-22页
     ·上位机模块要求第22页
   ·FPGA 及开发板选型第22-25页
     ·FPGA 选型第22-23页
     ·开发板选型第23-25页
   ·本章小结第25-26页
第三章 DSP 总剂量实验子板设计第26-40页
   ·DSP 最小硬件系统结构第26-29页
     ·电源电路第26页
     ·复位电路第26-27页
     ·时钟电路第27页
     ·EMIF 总线接口第27-28页
     ·JTAG 接口第28-29页
     ·DSP 总剂量实验子板框架第29页
   ·DSP 总剂量实验板静态偏置实现方法第29-32页
     ·DSP 静态总剂量实验偏置方案第29-30页
     ·DSP 引脚信息分类统计第30-31页
     ·开发板电压调整第31页
     ·输入引脚配置方法第31-32页
   ·DSP 总剂量实验子板设计第32-36页
     ·外围 flash 电路第33页
     ·JTAG 电路第33-35页
     ·时钟等其他电路第35-36页
   ·电源方案第36-38页
   ·本章小结第38-40页
第四章 设计实现及硬件调试第40-46页
   ·高速 PCB 的可靠性考虑及设计实现第40-42页
     ·可靠性要求下的布局布线第40页
     ·设计实现第40-42页
   ·硬件调试及其问题第42-43页
   ·子板硬件调试结果说明第43-44页
   ·本章小结第44-46页
第五章 FPGA 接口控制器代码设计第46-58页
   ·HPI 接口读写模块设计第46-51页
     ·HPI 接口功能说明第46-47页
     ·HPI 接口信号描述第47-49页
     ·HPI 接口读写模块仿真结果第49-51页
   ·EMIF 接口读写模块设计第51-55页
     ·EMIF 接口功能说明第51-52页
     ·EMIF 接口读写模块信号描述第52-53页
     ·EMIF 接口仿真结果第53-55页
   ·McBSP 接口设计第55-57页
     ·McBSP 接口功能描述第55-56页
     ·McBSP 接口信号说明第56页
     ·McBSP 接口仿真结果第56-57页
   ·本章小结第57-58页
第六章 总结与展望第58-60页
致谢第60-62页
参考文献第62-65页

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