| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 1 绪论 | 第10-18页 |
| ·受激发射消耗显微术(STIMULATED EMISSION DEPLETION,STED) | 第11-13页 |
| ·基于单分子定位的超分辨显微术 | 第13-16页 |
| ·光激活定位显微术(PALM) | 第13-15页 |
| ·随机光学重构显微术(STORM) | 第15-16页 |
| ·结构光照明显微术(SIM) | 第16页 |
| ·本课题的研究内容 | 第16-18页 |
| 2 基于受激辐射消耗的荧光寿命超分辨成像原理 | 第18-31页 |
| ·受激发射消耗荧光显微术(STED) | 第18-25页 |
| ·基本原理 | 第18-19页 |
| ·光斑整形仿真计算 | 第19-23页 |
| ·STED理论分辨率 | 第23-25页 |
| ·荧光寿命 | 第25-31页 |
| ·荧光寿命的定义 | 第25-27页 |
| ·荧光寿命的测量 | 第27-31页 |
| 3 超分辨荧光寿命显微成像系统 | 第31-46页 |
| ·激光扫描共聚焦荧光寿命显微成像系统 | 第31-36页 |
| ·系统构架 | 第31-33页 |
| ·实验结果分析 | 第33-36页 |
| ·STED超分辨荧光寿命显微成像系统 | 第36-46页 |
| ·系统构架 | 第37-38页 |
| ·实验结果分析 | 第38-46页 |
| 4 系统功能扩展 | 第46-59页 |
| ·OFF-LINE G-STED | 第46-51页 |
| ·G-STED原理 | 第46-48页 |
| ·实验结果分析 | 第48-51页 |
| ·柱状矢量偏正光产生系统 | 第51-59页 |
| ·柱状矢量偏振光子系统 | 第51-56页 |
| ·仿真与实验结果分析 | 第56-59页 |
| 5 总结与展望 | 第59-62页 |
| ·总结 | 第59-60页 |
| ·展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 作者简历及在学期间的科研成果 | 第67页 |