激光引信高精度高频率脉冲测距技术
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-8页 |
1 绪论 | 第8-11页 |
·课题背景 | 第8-9页 |
·激光引信技术发展趋势 | 第9-10页 |
·论文主要工作 | 第10-11页 |
2 激光引信与激光脉冲测距 | 第11-15页 |
·激光引信探测体制 | 第11-13页 |
·几何截断定距体制 | 第11页 |
·脉冲定距体制 | 第11-13页 |
·激光脉冲测距误差分析 | 第13-14页 |
·系统硬件结构 | 第14-15页 |
3 窄脉冲激光驱动与回波接收放大电路 | 第15-36页 |
·窄脉冲激光驱动介绍 | 第15页 |
·RLC充放电电路原理 | 第15-19页 |
·电流开关器件 | 第17页 |
·半导体激光器 | 第17-19页 |
·功率晶体管SCR开关电路 | 第19-23页 |
·功率晶体管正反馈开关器 | 第19-20页 |
·钳位二极管电阻 | 第20页 |
·降低对前级电路的冲击 | 第20-21页 |
·电路放电的三个步骤 | 第21页 |
·pspice参数分析 | 第21-23页 |
·窄脉冲激光驱动电路实验结果 | 第23-24页 |
·激光回波光电探测 | 第24-26页 |
·光电探测器介绍 | 第24页 |
·光电探测器等效电路 | 第24-25页 |
·探测器选择 | 第25-26页 |
·放大电路设计要求 | 第26-27页 |
·放大器输入阻抗 | 第26页 |
·放大器增益带宽 | 第26-27页 |
·放大器输出阻抗 | 第27页 |
·放大电路设计 | 第27-34页 |
·晶体管高频截止频率 | 第27-29页 |
·负反馈在电路中引起的变化 | 第29页 |
·两种不同输入阻抗放大电路 | 第29-31页 |
·直接耦合与交流耦合放大器级联 | 第31-33页 |
·放大电路设计结果 | 第33-34页 |
·AD603自增益技术 | 第34-35页 |
·小结 | 第35-36页 |
4 高压电路 | 第36-43页 |
·高压电路设计要求 | 第36页 |
·高压电路设计 | 第36-39页 |
·DCDC升压电路原理 | 第36-37页 |
·555芯片工作原理 | 第37-39页 |
·高压源幅值推导以及实验结果 | 第39-42页 |
·充电电感末态电流值推导 | 第39页 |
·充电电感末态电流值测试 | 第39-40页 |
·高压源的空载与负载 | 第40-41页 |
·高压源幅值公式 | 第41-42页 |
·小结 | 第42-43页 |
5 基于回波饱和高精度时刻鉴别与时间测量技术 | 第43-58页 |
·时刻鉴别技术介绍 | 第43-44页 |
·时刻鉴别电路 | 第44-45页 |
·前沿鉴别电路 | 第44页 |
·定比延时鉴别电路 | 第44-45页 |
·双阈值鉴别电路 | 第45页 |
·基于回波饱和定比延时电路设计 | 第45-49页 |
·时刻鉴别时间计算 | 第46-47页 |
·pspice高斯受控源拟合 | 第47-48页 |
·回波饱和定比延时电路实验结果 | 第48-49页 |
·高精度时间测量 | 第49-54页 |
·高精度计时芯片TDC-GP2 | 第49页 |
·芯片计时原理 | 第49-50页 |
·TDC芯片与外部通信 | 第50-51页 |
·自动校正时间数据 | 第51-52页 |
·高速晶振校准 | 第52-53页 |
·STM32程序设计 | 第53-54页 |
·系统时序测试实验 | 第54-55页 |
·静态距离测量实验结果 | 第55-57页 |
·小结 | 第57-58页 |
总结 | 第58-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
附录 | 第64-66页 |