相变随机存储器电特性测试方法研究

摘要	第1-5页
ABSTRACT	第5-8页
1 绪论	第8-21页
·课题研究背景与意义	第8-9页
·非易失性存储器	第9-12页
·相变存储器概述	第12-19页
·本论文研究目的与内容结构	第19-21页
2 相变存储器电特性测试平台	第21-32页
·引言	第21页
·相变存储器电特性测试平台搭建	第21-29页
·平台测试方案	第29-31页
·本章小结	第31-32页
3 相变存储器电特性测试方法及影响因素分析	第32-57页
·I-V、V-I 特性测试方法分析	第32-34页
·重复特性测试方法分析	第34-36页
·写脉冲初始条件系列测试方法分析	第36-45页
·擦脉冲初始条件系列测试方法分析	第45-52页
·读出稳定性测试方法分析	第52-53页
·疲劳特性测试方法分析	第53-56页
·本章小结	第56-57页
4 高速相变存储器电特性测试方法初探	第57-67页
·相变存储器10 纳秒以下写入操作测试方法研究	第57-59页
·相变存储器皮秒级写入操作测试方法探究	第59-66页
·本章小结	第66-67页
5 总结与展望	第67-69页
·总结	第67-68页
·展望	第68-69页
致谢	第69-70页
参考文献	第70-73页
附录 攻读学位期间发表论文情况	第73页