| 创新性声明 | 第1页 |
| 关于论文使用授权的说明 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·目标激光散射截面研究意义 | 第9-10页 |
| ·电子测量仪器的发展 | 第10-13页 |
| ·虚拟仪器的特点 | 第13页 |
| ·虚拟仪器发展现状 | 第13-15页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第15-16页 |
| ·论文的主要研究工作 | 第16-17页 |
| 第二章 实验基本理论 | 第17-29页 |
| ·基本概念 | 第17-21页 |
| ·方向反射率 | 第17页 |
| ·激光雷达散射截面 | 第17-19页 |
| ·BRDF概念及定义 | 第19-20页 |
| ·BRDF与LRCS的关系 | 第20页 |
| ·基本计算方法 | 第20-21页 |
| ·粗糙面散射的总体特性和测量技术 | 第21-27页 |
| ·粗糙面的相干反射和非相干反射 | 第21-23页 |
| ·测量技术 | 第23-27页 |
| ·小结 | 第27-29页 |
| 第三章 仪器控制中的有关技术标准 | 第29-45页 |
| ·GPIB接口介绍 | 第29-34页 |
| ·GPIB的信息类型 | 第29页 |
| ·GPIB设备分类 | 第29-30页 |
| ·GPIB接口总线分类 | 第30-31页 |
| ·GPIB接口物理和电性能特性 | 第31-32页 |
| ·结构要求 | 第32页 |
| ·握手过程介绍 | 第32-33页 |
| ·GPIB寻址 | 第33-34页 |
| ·GPIB系统控制器(System Controller) | 第34页 |
| ·IEEE488.2 标准介绍 | 第34-38页 |
| ·IEEE-488.2 标准定义控制器[28] | 第35页 |
| ·IEEE-488.2 标准控制顺序 | 第35-36页 |
| ·IEEE-488.2 标准协议 | 第36-37页 |
| ·IEEE488.2 仪器 | 第37-38页 |
| ·SCPI简介 | 第38-40页 |
| ·SCPI仪器模型 | 第39-40页 |
| ·SCPI指令例 | 第40页 |
| ·VISA技术简介[17] | 第40-45页 |
| 第四章 锁相放大器SR850 介绍 | 第45-57页 |
| ·什么是锁相放大器 | 第45页 |
| ·什么是相敏检波 | 第45-46页 |
| ·窄带探测器 | 第46-47页 |
| ·SR850 介绍 | 第47-57页 |
| ·RMS和峰值 | 第48页 |
| ·度数和弧度 | 第48页 |
| ·参考通道 | 第48页 |
| ·参考输入 | 第48-49页 |
| ·内部振荡发生器 | 第49页 |
| ·参考振荡发生器和相位 | 第49-50页 |
| ·相位抖动 | 第50页 |
| ·谐波探测器 | 第50页 |
| ·相敏检波器（PSD） | 第50页 |
| ·数字相敏检波器和模拟相敏检波器 | 第50-51页 |
| ·时间常数和DC增益 | 第51页 |
| ·时间常数 | 第51-52页 |
| ·数字滤波器和模拟滤波器 | 第52页 |
| ·同步滤波 | 第52-53页 |
| ·长时间常数（Long time constants） | 第53页 |
| ·直流输出增益 | 第53页 |
| ·关于分辨率 | 第53-54页 |
| ·直流输出和缩放比例 | 第54-57页 |
| 第五章 锁相放大器SR850 内部机器语言 | 第57-63页 |
| ·两种通信方式 | 第57-59页 |
| ·参考源和相位命令 | 第59-63页 |
| 第六章 软件设计与实验测试 | 第63-79页 |
| ·系统软件设计的目标与要求 | 第63页 |
| ·软件开发平台LabVIEW介绍 | 第63-64页 |
| ·系统软件设计的主要技术基础 | 第64-65页 |
| ·框图程序设计 | 第64页 |
| ·前面板设计 | 第64-65页 |
| ·SR850 的设计过程 | 第65-73页 |
| ·测试实验与结果分析 | 第73-79页 |
| 结束语 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |