基于MOS-电阻阵列的动态红外热像生成系统
| 1 引言 | 第1-13页 |
| ·课题背景 | 第9-12页 |
| ·研究内容 | 第12-13页 |
| 2 系统组成及工作流程 | 第13-18页 |
| ·系统的硬件组成 | 第13-14页 |
| ·系统的软件组成 | 第14-16页 |
| ·系统的工作流程 | 第16-18页 |
| 3 硬件控制系统的设计 | 第18-40页 |
| ·MOS-电阻阵列动态红外景象产生器 | 第18-22页 |
| ·MOS-电阻阵列 | 第18-20页 |
| ·器件总体封装结构 | 第20-21页 |
| ·温度控制系统 | 第21页 |
| ·电阻阵列的技术指标 | 第21-22页 |
| ·硬件控制系统的设计 | 第22-40页 |
| ·对控制系统的要求 | 第22-23页 |
| ·控制系统整体结构的设计 | 第23页 |
| ·控制系统各部分的选型及使用 | 第23-37页 |
| ·PCI接口芯片 | 第23-27页 |
| ·双端口RAM | 第27-31页 |
| ·数模转换器 | 第31-33页 |
| ·单片机 | 第33-36页 |
| ·数据缓冲器 | 第36-37页 |
| ·可编程逻辑控制器 | 第37页 |
| ·功放及电平转换电路 | 第37页 |
| ·硬件控制系统的结构及工作原理 | 第37-40页 |
| 4 软件控制系统的设计 | 第40-52页 |
| ·软件系统的功能 | 第40页 |
| ·软件系统的结构及设计 | 第40-52页 |
| ·应用程序的设计 | 第40-46页 |
| ·三级编程结构的介绍 | 第40-42页 |
| ·SDK软件包的安装及使用 | 第42-43页 |
| ·应用程序的工作流程 | 第43-45页 |
| ·应用程序的设计 | 第45-46页 |
| ·单片机控制程序的设计 | 第46-52页 |
| ·单片机控制程序的工作流程 | 第46-50页 |
| ·单片机的控制时序 | 第50-52页 |
| 5 数据转换与非均匀性校正 | 第52-65页 |
| ·温度与红外辐射量的对应关系 | 第52页 |
| ·非均匀性校正 | 第52-64页 |
| ·电阻阵列的结构特点 | 第53-54页 |
| ·非均匀性原因分析 | 第54-55页 |
| ·非均匀性校正 | 第55-64页 |
| ·对像元间物理性差异引起非均匀性的校正 | 第55-58页 |
| ·电源线及地线压降对非均匀性影响的分析与处理 | 第58-61页 |
| ·动态模拟产生非均匀性的原因分析及处理方法 | 第61-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 6 系统整体性能的测试与分析 | 第65-73页 |
| ·测试项目 | 第65页 |
| ·测试用热像仪的介绍 | 第65-66页 |
| ·测试系统结构 | 第66页 |
| ·测试前的准备工作 | 第66-67页 |
| ·测试方案 | 第67-69页 |
| ·测试结果 | 第69-73页 |
| 7 总结 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 附录A 系统实物图 | 第79-80页 |
| 附录B 红外景像产生器内部结构图 | 第80-81页 |
| 附录C 系统测试结构图 | 第81-82页 |
| 附录D 时序图 | 第82-84页 |
| 附录D.1 行模拟信号与列使能信号 | 第82-83页 |
| 附录D.2 列地址信号与列使能信号 | 第83-84页 |
| 附录E 故障元分布图 | 第84-85页 |
| 附录F 平均V_S-T曲线 | 第85页 |
