亚表面缺陷的磁光/涡流实时成像检测技术的研究
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-24页 |
| ·课题的来源及研究工作的意义 | 第11-13页 |
| ·缺陷的无损检测方法评述 | 第13-15页 |
| ·亚表面缺陷的成像检测方法 | 第15-22页 |
| ·磁光／涡流成像的国内外研究现状 | 第22-24页 |
| 第2章 磁光／涡流成像检测的理论基础 | 第24-40页 |
| ·旋光现象 | 第24-25页 |
| ·磁光效应 | 第25-31页 |
| ·磁光效应的数理解释 | 第28-29页 |
| ·交变磁场下的磁光效应 | 第29-31页 |
| ·磁光偏转实验 | 第31-37页 |
| ·涡流效应 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第3章 脉冲涡流检测技术 | 第40-55页 |
| ·脉冲涡流的特征 | 第40-42页 |
| ·影响脉冲涡流信号的因素 | 第42-44页 |
| ·PEC检测系统 | 第44-47页 |
| ·PEC检测的工作原理 | 第45-46页 |
| ·脉冲涡流传感器 | 第46-47页 |
| ·PEC检测实验 | 第47-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第4章 磁光／涡流成像检测技术 | 第55-92页 |
| ·MOI检测系统的方案 | 第55-58页 |
| ·MOI检测系统的组成 | 第58-83页 |
| ·激光光源 | 第59-65页 |
| ·光学成像 | 第65-67页 |
| ·涡流传感器 | 第67-76页 |
| ·信号与放大 | 第76页 |
| ·磁光传感元件 | 第76-81页 |
| ·CCD图像传感器 | 第81-83页 |
| ·MOI成像理论 | 第83-84页 |
| ·MOI图像的形成过程 | 第84-85页 |
| ·MOI的有限元分析 | 第85-90页 |
| ·本章小结 | 第90-92页 |
| 第5章 MOI检测实验与图像处理 | 第92-115页 |
| ·MOI实验装置结构 | 第92-94页 |
| ·MOI检测实验 | 第94-101页 |
| ·表面缺陷成像 | 第94-97页 |
| ·表面凹槽 | 第94-96页 |
| ·表面划伤 | 第96-97页 |
| ·亚表面缺陷成像 | 第97-100页 |
| ·覆盖层下缺陷(凹槽) | 第97-98页 |
| ·盲孔缺陷 | 第98-100页 |
| ·搭接件连接处 | 第100-101页 |
| ·MOI磁光图像处理. | 第101-114页 |
| ·Vortex系统结构 | 第101-102页 |
| ·磁光图像的分析 | 第102-103页 |
| ·图像处理方法 | 第103-108页 |
| ·软件与应用 | 第108-114页 |
| ·本章小结 | 第114-115页 |
| 第6章 结论 | 第115-118页 |
| 参考文献 | 第118-126页 |
| 作者在读期间科研成果简介 | 第126-127页 |
| 声明 | 第127-128页 |
| 致谢 | 第128页 |
