片上系统的可测试性技术应用研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| ·可测试性技术概述 | 第13-14页 |
| ·研究背景和意义 | 第14-16页 |
| ·边界扫描技术基本原理 | 第16-17页 |
| ·论文内容安排 | 第17-19页 |
| 第二章 边界扫描测试适配器设计 | 第19-34页 |
| ·边界扫描测试适配器设计思想 | 第19-20页 |
| ·边界扫描测试适配器的测试总线 | 第20-21页 |
| ·边界扫描测试适配器硬件设计 | 第21-27页 |
| ·电路原理 | 第21-22页 |
| ·边界扫描测试主控芯片 | 第22页 |
| ·核心模块电路 | 第22-26页 |
| ·通讯模块电路 | 第26-27页 |
| ·硬件抗干扰电路设计 | 第27-29页 |
| ·边界扫描测试适配器软件设计 | 第29-33页 |
| ·eTBC8980 的主要寄存器 | 第29-30页 |
| ·eTBC8980 离散控制程序设计 | 第30-31页 |
| ·eTBC8980 连续控制程序设计 | 第31-32页 |
| ·其它程序设计及实现 | 第32-33页 |
| ·边界扫描测试适配器上位机软件设计 | 第33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第三章 验证平台硬件设计 | 第34-53页 |
| ·验证平台设计思想 | 第34-35页 |
| ·边界扫描芯片的工作说明 | 第35-37页 |
| ·边界扫描工作方式 | 第35-36页 |
| ·边界扫描工作模式 | 第36-37页 |
| ·验证平台总体设计 | 第37-42页 |
| ·核心器件选择 | 第38-39页 |
| ·核心器件的特点 | 第39-41页 |
| ·边界扫描链路器件选择 | 第41-42页 |
| ·非边界扫描器件选择 | 第42页 |
| ·边界扫描器件内部结构 | 第42-45页 |
| ·TAP 控制器 | 第42-43页 |
| ·数据寄存器 | 第43-44页 |
| ·指令寄存器 | 第44-45页 |
| ·验证平台硬件设计 | 第45-52页 |
| ·电路原理 | 第45页 |
| ·核心器件电路 | 第45-47页 |
| ·外围器件电路 | 第47-49页 |
| ·扫描测试接口电路 | 第49-51页 |
| ·通信接口电路 | 第51页 |
| ·电源 | 第51-52页 |
| ·故障注入电路设计 | 第52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第四章 验证平台软件设计 | 第53-68页 |
| ·验证平台软件特点 | 第53页 |
| ·片上可编程系统软件设计 | 第53-63页 |
| ·IP 核的概念 | 第53-54页 |
| ·Nios II 软核说明 | 第54-56页 |
| ·片上可编程系统开发流程 | 第56-60页 |
| ·定制Avalon 总线IP 核 | 第60-63页 |
| ·核心器件通讯程序设计 | 第63-66页 |
| ·核心器件程序设计 | 第63-65页 |
| ·实现方案改进 | 第65-66页 |
| ·基于FPGA 的边界扫描状态机实现 | 第66-67页 |
| ·FPGA 实现边界扫描状态机 | 第66-67页 |
| ·功能仿真验证 | 第67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第五章 可测性技术验证试验 | 第68-83页 |
| ·边界扫描描述文件介绍 | 第68-73页 |
| ·FPGA 的BSDL 文件介绍 | 第68-71页 |
| ·TMS320 F2812 的BSDL 文件介绍 | 第71页 |
| ·BCT8244 的BSDL 文件介绍 | 第71-72页 |
| ·扫描指令集介绍 | 第72-73页 |
| ·离散模式边界扫描测试试验 | 第73-74页 |
| ·边界扫描测试试验 | 第74-77页 |
| ·边界扫描测试原理 | 第74-75页 |
| ·Bypass 指令旁路试验 | 第75-76页 |
| ·Sample 指令测试试验 | 第76页 |
| ·Extest 指令测试试验 | 第76-77页 |
| ·故障注入试验 | 第77-79页 |
| ·故障注入原理 | 第77-78页 |
| ·固定电平控制试验 | 第78-79页 |
| ·外部故障检测试验 | 第79-82页 |
| ·故障检测原理 | 第79-80页 |
| ·故障检测试验 | 第80-82页 |
| ·小结 | 第82-83页 |
| 第六章 总结与展望 | 第83-85页 |
| ·论文总结 | 第83页 |
| ·工作展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-90页 |
| 致谢 | 第90-91页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第91-92页 |
| 附录一 边界扫描测试适配器实物照 | 第92页 |
| 附录二 验证平台实物照 | 第92页 |
