| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·课题的技术背景和意义 | 第11-13页 |
| ·测试定义 | 第11-12页 |
| ·测试与验证和可测性设计的关系 | 第12-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·SRT3700对讲机收发芯片简介 | 第15-16页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第16-17页 |
| ·论文的章节安排 | 第17-18页 |
| 第二章 基于芯片的设计验证 | 第18-34页 |
| ·基于SystemVerilog验证技术 | 第18-21页 |
| ·SystemVerilog断言(SVA) | 第18-19页 |
| ·受约束随机 | 第19-20页 |
| ·验证平台的建立与面向对象思想 | 第20-21页 |
| ·数字音频接口及其规范 | 第21-25页 |
| ·数字音频接口的验证 | 第25-30页 |
| ·速率转换器的协同验证 | 第30-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 数字电路测试方法 | 第34-49页 |
| ·故障和可测性分析 | 第34-39页 |
| ·故障等效电路 | 第34页 |
| ·可测性度量 | 第34-35页 |
| ·SCOAP可控制性和可观测性 | 第35-36页 |
| ·SOCAP算法实例 | 第36-39页 |
| ·自动测试模版生成(ATPG) | 第39-40页 |
| ·固定故障ATPG | 第40-47页 |
| ·固定故障 | 第40-42页 |
| ·组合固定故障ATPG | 第42-44页 |
| ·时序固定故障ATPG | 第44-47页 |
| ·故障仿真与ATPG模版 | 第47-48页 |
| ·故障仿真 | 第47页 |
| ·ATPG模版 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 扫描设计方法 | 第49-62页 |
| ·扫描测试结构 | 第49-51页 |
| ·测试危机 | 第49页 |
| ·扫描结构的提出 | 第49-50页 |
| ·对扫描结构的常见误解 | 第50-51页 |
| ·扫描触发器 | 第51-53页 |
| ·Mux-D扫描触发器 | 第51-52页 |
| ·其他类型扫描触发器 | 第52-53页 |
| ·扫描工作原理 | 第53-58页 |
| ·扫描时序 | 第53-55页 |
| ·确保正确的扫描过程 | 第55-58页 |
| ·提高扫描结构的效率 | 第58-60页 |
| ·多条扫描链的使用 | 第58-59页 |
| ·扫描端口复用 | 第59-60页 |
| ·扫描设计规则 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 基于扫描的可测性设计实现 | 第62-83页 |
| ·SRT3700数字核心 | 第62页 |
| ·数字核心设计流程 | 第62-64页 |
| ·数字模块DFT设计及处理 | 第64-70页 |
| ·对讲机数字模块测试环的设计 | 第64-68页 |
| ·时钟产生的的处理 | 第68-70页 |
| ·DFT扩展 | 第70页 |
| ·扫描综合 | 第70-72页 |
| ·ATPG生成 | 第72-81页 |
| ·利用FastScan产生ATPG | 第72-79页 |
| ·ATPG压缩 | 第79-81页 |
| ·ATPG验证及测试 | 第81-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 第六章 总结和展望 | 第83-85页 |
| ·主要工作 | 第83-84页 |
| ·本文在对讲机芯片数字音频接口的功能验证方面所做的工作 | 第83-84页 |
| ·本文在对讲机芯片的可测性设计方面所做的工作 | 第84页 |
| ·工作中的不足及下一步研究建议 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
| 攻读硕士学位期间公开发表的论文情况 | 第89-90页 |
| 攻读硕士学位期间参与的项目 | 第90页 |