高稳低相噪小型恒温晶体振荡器
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·国内外技术现状 | 第8-9页 |
| ·章节安排 | 第9-11页 |
| 第二章 高稳晶振电路及指标分析 | 第11-27页 |
| ·高精密石英晶体谐振器 | 第11-16页 |
| ·石英谐振器的切型 | 第12页 |
| ·石英谐振器等效电路 | 第12-14页 |
| ·石英谐振器的技术参数 | 第14页 |
| ·石英谐振器的频率电流特性 | 第14-15页 |
| ·石英谐振器的频率温度特性 | 第15-16页 |
| ·主振及其辅助电路 | 第16-19页 |
| ·主振电路 | 第16-17页 |
| ·幅度放大及输出电路 | 第17-18页 |
| ·AGC电路 | 第18-19页 |
| ·温度控制系统 | 第19-21页 |
| ·高稳晶振的技术指标 | 第21-27页 |
| ·频率准确度 | 第22页 |
| ·频率稳定度 | 第22页 |
| ·相位噪声 | 第22-25页 |
| ·谐波抑制 | 第25页 |
| ·杂波抑制 | 第25页 |
| ·老化率 | 第25-26页 |
| ·开机特性 | 第26页 |
| ·体积、重量、功耗 | 第26-27页 |
| 第三章 关键技术的研究 | 第27-47页 |
| ·小型化的设计 | 第27-30页 |
| ·温度控制系统设计 | 第30-37页 |
| ·温度控制电路的选择 | 第30-32页 |
| ·加热方式的选择 | 第32页 |
| ·热敏电阻位置的确定 | 第32-33页 |
| ·热分析 | 第33-37页 |
| ·相位噪声及老化率的研究 | 第37-39页 |
| ·相位噪声的研究 | 第37-39页 |
| ·老化率的研究 | 第39页 |
| ·生产工艺的研究 | 第39-40页 |
| ·可靠性的研究 | 第40-47页 |
| ·热设计 | 第40-41页 |
| ·元器件的选用及降额设计 | 第41-43页 |
| ·EMC设计 | 第43-47页 |
| 第四章 产品的测试 | 第47-57页 |
| ·产品的测试方法 | 第47-49页 |
| ·短期稳定度的测量 | 第47页 |
| ·相位噪声的测量 | 第47-48页 |
| ·老化率的测量 | 第48-49页 |
| ·产品的测试结果 | 第49-57页 |
| ·测试框图 | 第49-50页 |
| ·产品测试结果及分析 | 第50-54页 |
| ·产品的环境试验 | 第54-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 附录A 10MHz高精密晶体技术指标 | 第65-66页 |
| 附录B 产品外形图及管脚分配 | 第66-67页 |
