| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·课题的选题背景 | 第7页 |
| ·发展状况及应用领域 | 第7-9页 |
| ·课题的意义及主要工作 | 第9-10页 |
| 第二章 测试系统整体概述 | 第10-14页 |
| ·测试系统的目标 | 第10页 |
| ·测试系统的硬件平台概述 | 第10-11页 |
| ·软件设计环境介绍 | 第11-12页 |
| ·Quartus II 5.1 软件介绍 | 第11-12页 |
| ·CCS 软件介绍 | 第12页 |
| ·测试系统的软件设计概述 | 第12-14页 |
| 第三章 下位机软件设计 | 第14-43页 |
| ·TMS320C5509 与上位机异步串口的通信 | 第14-21页 |
| ·方案概述和接口介绍 | 第14-15页 |
| ·硬件连接 | 第15-16页 |
| ·数据格式的统一 | 第16页 |
| ·波特率的匹配 | 第16-17页 |
| ·同步 | 第17页 |
| ·寄存器的设置 | 第17-18页 |
| ·程序设计详述 | 第18-21页 |
| ·ADC 外设对电压进行采样 | 第21-24页 |
| ·ADC 外设及其寄存器介绍 | 第21-23页 |
| ·程序设计详述 | 第23-24页 |
| ·使用AIC23 进行基带波形产生 | 第24-31页 |
| ·基带波形产生方法及选择 | 第24-25页 |
| ·I~2C总线和AIC23概述 | 第25-26页 |
| ·程序设计详述 | 第26-31页 |
| ·使用AIC23 对基带信号的数据采集 | 第31-33页 |
| ·失真度的计算 | 第33-38页 |
| ·总谐波失真度 | 第33-37页 |
| ·含有非谐波成分的失真度的计算 | 第37-38页 |
| ·接收与发送数据 | 第38-39页 |
| ·程序在Flash 中的固化和上电自启动 | 第39-43页 |
| ·DSP 实现对Flash 的读写 | 第39-40页 |
| ·DSP 实现从EMIF boot | 第40-43页 |
| 第四章 测试软件设计 | 第43-58页 |
| ·FPGA 芯片及LED 的测试 | 第43-44页 |
| ·FPGA 实现通过EHPI 对DSP 进行boot | 第44-52页 |
| ·EHPI 接口简介 | 第44-46页 |
| ·FPGA 通过EHPI 对DSP boot 的程序实现 | 第46-52页 |
| ·DSP 的测试 | 第52-53页 |
| ·存储器的测试 | 第53-54页 |
| ·AIC23 测试 | 第54页 |
| ·DSP 控制FPGA 的测试 | 第54-58页 |
| ·JTAG 介绍及原理 | 第54-56页 |
| ·程序实现 | 第56-58页 |
| 第五章 测试流程及实验结果分析 | 第58-72页 |
| ·测试点的选取和测试流程分析 | 第58-61页 |
| ·测试点的选取 | 第58-59页 |
| ·测试流程分析 | 第59-61页 |
| ·测试系统下位机软件结果及分析 | 第61-71页 |
| ·5509 与上位机异步串口进行通信 | 第61-63页 |
| ·使用ADC 外设对电压采样 | 第63页 |
| ·使用AIC23 进行基带波形发生 | 第63-67页 |
| ·使用AIC23 进行数据采集 | 第67-68页 |
| ·失真度的计算 | 第68-70页 |
| ·程序在Flash 中的固化和上电自启动 | 第70-71页 |
| ·改进和完善 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74页 |