| 中文摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-16页 |
| 第1章 绪论 | 第16-28页 |
| ·课题研究的目的与意义 | 第16-18页 |
| ·光栅位移测量技术的发展现状及发展趋势 | 第18-25页 |
| ·微位移测量技术 | 第18-19页 |
| ·计量光栅技术 | 第19-21页 |
| ·光栅微位移检测技术 | 第21-24页 |
| ·光栅微位移测量技术的现状及发展趋势 | 第24-25页 |
| ·莫尔条纹细分技术 | 第25页 |
| ·本文研究的主要内容与工作安排 | 第25-28页 |
| 第2章 双光栅干涉仪数学模型与理论分析 | 第28-56页 |
| ·莫尔条纹 | 第28-30页 |
| ·Talbot 自成像 | 第30-33页 |
| ·泰伯效应的理论分析与应用 | 第33-46页 |
| ·泰伯效应 | 第33-34页 |
| ·泰伯效应理论分析 | 第34-41页 |
| ·广义泰伯效应 | 第41-43页 |
| ·泰伯效应应用 | 第43-46页 |
| ·双光栅干涉仪的工作原理 | 第46-52页 |
| ·对称式非等刻线数光栅构成双光栅系统 | 第47-50页 |
| ·非对称式非等刻线数光栅构成的双光栅系统 | 第50-52页 |
| ·单光栅干涉仪的工作原理 | 第52-54页 |
| ·高刻线数光栅构成单光栅系统 | 第52-53页 |
| ·低刻线数光栅构成单光栅系统 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第3章 基于光程调变方法的泰伯微位移检测 | 第56-74页 |
| ·基于光程调变方法的泰伯微位移检测工作原理 | 第56-65页 |
| ·基于光程调变方法的泰伯微位移测量原理 | 第56-58页 |
| ·基于光程调变方法的泰伯微位移检测理论分析 | 第58-65页 |
| ·基于光程调制方法的泰伯微位移检测系统设计 | 第65-67页 |
| ·基于光程调制方法的泰伯微位移检测仿真分析 | 第67-71页 |
| ·泰伯自成像区仿真分析 | 第67-69页 |
| ·泰伯成像Ⅱ区仿真分析 | 第69-70页 |
| ·泰伯成像Ⅲ区仿真分析 | 第70-71页 |
| ·基于光程调制方法实现泰伯微位移检测方法的系统光路设计 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第4章 莫尔条纹细分方法的研究 | 第74-90页 |
| ·常用莫尔条纹细分方法种类及比较 | 第74-82页 |
| ·基于FPGA 的莫尔条纹细分方法 | 第82-87页 |
| ·传统的四倍频细分法 | 第82-85页 |
| ·基于FPGA 的莫尔条纹四倍频细分方法基本原理 | 第85-87页 |
| ·基于FPGA 的新型嵌入式微分型莫尔条纹细分法原理 | 第87-89页 |
| ·本章小结 | 第89-90页 |
| 第5章 新型嵌入式微分型米利莫尔条纹细分方法 | 第90-111页 |
| ·FPGA 概述 | 第90-91页 |
| ·莫尔条纹细分系统硬件设计 | 第91-96页 |
| ·莫尔条纹细分系统可编程片上系统设计 | 第96-98页 |
| ·VHDL 概述 | 第96-97页 |
| ·基于FPGA 的莫尔条纹细分系统设计流程及方案 | 第97-98页 |
| ·基于FPGA 嵌入式微分型莫尔条纹细分法的片上系统设计 | 第98-109页 |
| ·辨向与细分电路模块设计 | 第98-100页 |
| ·计数电路模块设计 | 第100-102页 |
| ·莫尔条纹移动方向指示电路模块设计 | 第102-103页 |
| ·光学参量转换电路模块设计 | 第103-105页 |
| ·计数数据运算电路模块设计 | 第105-107页 |
| ·LED 显示驱动电路模块设计 | 第107-109页 |
| ·片上系统调试 | 第109-110页 |
| ·本章小结 | 第110-111页 |
| 第6章 总结与展望 | 第111-114页 |
| ·全文总结 | 第111-112页 |
| ·研究展望 | 第112-114页 |
| 参考文献 | 第114-124页 |
| 主要创新点 | 第124-125页 |
| 致谢 | 第125-126页 |
| 攻读博士学位期间所发表的学术论文 | 第126-127页 |
| 详细摘要 | 第127-165页 |
