| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第9-10页 |
| ·AFM 图像的DIC 分析研究现状 | 第10-12页 |
| ·DIC 的研究现状 | 第10页 |
| ·DIC 用于微纳米范围内的形变检测 | 第10-12页 |
| ·本课题研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 DIC 和AFM 原位拉伸测试的基本原理 | 第14-23页 |
| ·DIC 的基本原理 | 第14-17页 |
| ·DIC 分析结果的MATLAB 处理 | 第17-21页 |
| ·位移或应变值的统计 | 第17页 |
| ·位移场或应变场重建 | 第17页 |
| ·位移向量图的绘制 | 第17-21页 |
| ·原位拉伸试验装置的原理 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 DIC 方法应用的可靠性验证 | 第23-32页 |
| ·针对预知变形的AFM 图像的DIC 分析 | 第23-26页 |
| ·DIC 用于CCD 下铝钛焊接件拉伸的分析 | 第26-30页 |
| ·实验过程 | 第28页 |
| ·实验结论 | 第28-30页 |
| ·采用CCD 对金属微粒磁带原位拉伸试验 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第4章 AFM 与DIC 适应性优化 | 第32-44页 |
| ·校准前AFM 图像的DIC 评价及AFM 校准 | 第32-35页 |
| ·校准前AFM 图像的DIC 评价 | 第32-33页 |
| ·AFM 校准 | 第33-35页 |
| ·DIC 分析开机后AFM 扫描陶管漂移和虚假应变 | 第35-37页 |
| ·AFM 扫描参数对0 应变试件的影响的DIC 分析 | 第37-43页 |
| ·AFM 的虚假变形与扫描范围的关系 | 第37-39页 |
| ·AFM 的虚假变形与扫描频率的关系 | 第39-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第5章 AFM 拉伸试验与DIC 分析的研究 | 第44-52页 |
| ·单晶铜丝原位拉伸实验 | 第44-47页 |
| ·实验过程 | 第44-45页 |
| ·实验结果与DIC 分析讨论 | 第45-47页 |
| ·金属微粒磁带原位拉伸实验 | 第47-51页 |
| ·实验过程 | 第47-48页 |
| ·实验结果与DIC 分析讨论 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59页 |