面向寄存器软错误的容错编译技术研究
| 摘要 | 第1-12页 |
| ABSTRACT | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-41页 |
| ·研究背景 | 第15-24页 |
| ·软错误的来源 | 第15-20页 |
| ·软错误的危害 | 第20-22页 |
| ·寄存器中的软错误 | 第22-24页 |
| ·容软错误技术概述 | 第24-28页 |
| ·容软错误的基本原理 | 第24-26页 |
| ·硬件容错技术 | 第26-27页 |
| ·软件容错技术 | 第27-28页 |
| ·相关研究现状 | 第28-37页 |
| ·软错误评估方法 | 第28-31页 |
| ·软件容错代表性成果 | 第31-36页 |
| ·软件容错优化研究 | 第36-37页 |
| ·主要研究内容 | 第37-39页 |
| ·论文结构 | 第39-41页 |
| 第二章 面向寄存器软错误的程序可靠性分析 | 第41-67页 |
| ·引言 | 第41-42页 |
| ·分析框架 | 第42-48页 |
| ·基本定义 | 第42-44页 |
| ·研究思路 | 第44-48页 |
| ·活跃概率分析 | 第48-52页 |
| ·摘要函数 | 第48-51页 |
| ·后置活跃概率 | 第51-52页 |
| ·生存期分析 | 第52-61页 |
| ·寄存器活性分析 | 第55-57页 |
| ·寄存器生存期提取 | 第57-61页 |
| ·实验及结果分析 | 第61-65页 |
| ·分析实验 | 第61-62页 |
| ·进一步分析 | 第62-64页 |
| ·与其它方法比较 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 第三章 基于部分 ECC 保护的寄存器分配 | 第67-85页 |
| ·引言 | 第67-68页 |
| ·相关工作介绍 | 第68-70页 |
| ·寄存器分配概述 | 第70-73页 |
| ·基于优先级的层次化寄存器着色 | 第73-80页 |
| ·构建相干图 | 第73-77页 |
| ·预着色过程 | 第77-79页 |
| ·全局着色过程 | 第79-80页 |
| ·实验验证 | 第80-83页 |
| ·本章小结 | 第83-85页 |
| 第四章 基于指令复算的检查点优化 | 第85-99页 |
| ·引言 | 第85-86页 |
| ·相关工作介绍 | 第86-87页 |
| ·检查点基本设置 | 第87-89页 |
| ·检查点优化 | 第89-94页 |
| ·基本思想 | 第89-91页 |
| ·优化分析 | 第91-94页 |
| ·实验验证 | 第94-97页 |
| ·故障注入实验 | 第94-96页 |
| ·性能分析实验 | 第96-97页 |
| ·本章小结 | 第97-99页 |
| 第五章 基于格式化标记的控制流错误检测 | 第99-115页 |
| ·引言 | 第99-100页 |
| ·控制流检测技术概述 | 第100-101页 |
| ·ECCFS 方法 | 第101-108页 |
| ·基本块标记格式设计 | 第101-104页 |
| ·基本块之间的控制流检测 | 第104-105页 |
| ·基本块内部的控制流检测 | 第105-106页 |
| ·过程间的控制流检测 | 第106-108页 |
| ·检测效能分析 | 第108-110页 |
| ·实验评估 | 第110-113页 |
| ·故障注入实验 | 第110-112页 |
| ·与其它方法的比较 | 第112-113页 |
| ·本章小结 | 第113-115页 |
| 第六章 面向寄存器软错误的指令调度 | 第115-129页 |
| ·引言 | 第115-116页 |
| ·研究思路 | 第116-118页 |
| ·SISER 方法 | 第118-123页 |
| ·指令依赖分析 | 第118-120页 |
| ·寄存器重命名 | 第120页 |
| ·基本块调度 | 第120-123页 |
| ·实验 | 第123-127页 |
| ·分析讨论 | 第127-128页 |
| ·本章小结 | 第128-129页 |
| 第七章 结束语 | 第129-133页 |
| ·本文主要贡献 | 第129-130页 |
| ·今后研究工作 | 第130-133页 |
| 致谢 | 第133-135页 |
| 参考文献 | 第135-145页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第145-146页 |
