| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-28页 |
| 1.1 μ子成像技术的发展 | 第10-16页 |
| 1.1.1 μ子的来源及其基本性质 | 第10-11页 |
| 1.1.2 基于透射原理的μ子成像技术 | 第11-13页 |
| 1.1.3 基于散射原理的新型μ子成像技术 | 第13-16页 |
| 1.2 μ子断层成像技术 | 第16-20页 |
| 1.2.1 μ子断层成像技术原理 | 第16-19页 |
| 1.2.2 μ子断层成像技术的特点 | 第19-20页 |
| 1.3 μ子图像重建算法 | 第20-25页 |
| 1.3.1 最接近的点(POCA)算法 | 第21-23页 |
| 1.3.2 最大似然-期望最大化(MLEM)算法 | 第23-25页 |
| 1.3.3 快速成像算法 | 第25页 |
| 1.4 图像重建问题的病态性与先验知识 | 第25-26页 |
| 1.5 论文的研究内容和结构安排 | 第26-28页 |
| 第二章 数值模拟平台及方法 | 第28-38页 |
| 2.1 软件平台简介 | 第28-30页 |
| 2.1.1 平台开发框架——Geant4 | 第28-29页 |
| 2.1.2 μ子源项模拟——CRY | 第29页 |
| 2.1.3 数据分析与后处理——MATLAB | 第29-30页 |
| 2.2 系统模型设计与数据分析 | 第30-35页 |
| 2.2.1 几何布局及物理作用模型 | 第30-31页 |
| 2.2.2 数据提取、存储与读取 | 第31-34页 |
| 2.2.3 外部径迹拟合与累积散射角统计 | 第34-35页 |
| 2.3 模拟平台的可靠性校验 | 第35-37页 |
| 2.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 μ子源项模拟及其数学模型构建 | 第38-52页 |
| 3.1 不同自然条件下的μ子源项模拟 | 第38-43页 |
| 3.1.1 不同日期的μ子源项特征 | 第38-40页 |
| 3.1.2 不同地理位置的μ子源项特征 | 第40-41页 |
| 3.1.3 不同海拔高度的μ子源项特征 | 第41-43页 |
| 3.2 源项特征的数学模型描述 | 第43-51页 |
| 3.2.1 改进版多群模型 | 第44-45页 |
| 3.2.2 权重系数的拟合 | 第45-49页 |
| 3.2.3 性能检验 | 第49-51页 |
| 3.3 本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 基于对象几何对称性先验知识的μ子成像方法 | 第52-77页 |
| 4.1 基本思想与原理 | 第52-53页 |
| 4.2 轴对称平板对象的反演成像 | 第53-61页 |
| 4.2.1 垂直单能μ子源项场景下的成像 | 第53-57页 |
| 4.2.2 天然μ子源项场景下的成像 | 第57-61页 |
| 4.3 球对称结构对象的反演成像 | 第61-67页 |
| 4.3.1 图像反演方法 | 第62-64页 |
| 4.3.2 性能检验 | 第64-67页 |
| 4.4 圆柱对称结构对象的反演成像 | 第67-76页 |
| 4.4.1 Geant4模型的优化 | 第68-69页 |
| 4.4.2 图像反演方法 | 第69-71页 |
| 4.4.3 倾斜角的选取 | 第71-72页 |
| 4.4.4 性能检验 | 第72-76页 |
| 4.5 本章小结 | 第76-77页 |
| 第五章 基于已知参照物先验知识的μ子成像方法 | 第77-97页 |
| 5.1 正向参比法的原理及特点 | 第77-81页 |
| 5.1.1 图像反演方法的局限性 | 第77-78页 |
| 5.1.2 正向参比法的基本思想 | 第78-79页 |
| 5.1.3 正向参比法的实现方法 | 第79-81页 |
| 5.2 平板内部狭缝的识别 | 第81-86页 |
| 5.2.1 狭缝识别方法 | 第82-83页 |
| 5.2.2 性能检验 | 第83-86页 |
| 5.3 嵌套球壳形变的识别 | 第86-88页 |
| 5.4 圆柱体容器内藏匿物的识别 | 第88-95页 |
| 5.4.1 计算和分析方法 | 第89-90页 |
| 5.4.2 性能检验 | 第90-95页 |
| 5.5 本章小结 | 第95-97页 |
| 第六章 结论与展望 | 第97-99页 |
| 6.1 结论 | 第97页 |
| 6.2 论文的主要创新点 | 第97-98页 |
| 6.3 工作展望 | 第98-99页 |
| 参考文献 | 第99-110页 |
| 致谢 | 第110-111页 |
| 附录:攻读博士学位期间发表的论文及参加学术会议情况 | 第111-112页 |