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基于GaN HEMT的半桥电路分析与设计

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 绪论第8-19页
    1.1 研究背景第8-14页
    1.2 GaN功率管的相关研究第14-17页
    1.3 本文研究内容第17-19页
2 650V E-HEMT特性和驱动电路设计第19-28页
    2.1 650V GaN HEMT特性第19-21页
    2.2 门极驱动电路设计第21-25页
    2.3 驱动芯片选择第25-27页
    2.4 本章小结第27-28页
3 基于GaN的半桥单元布局与杂散电感抽取第28-38页
    3.1 半桥结构的换流回路分析第28-31页
    3.2 PCB设计的主要问题与解决方案第31-34页
    3.3 寄生参数抽取第34-37页
    3.4 本章小结第37-38页
4 半桥电路的热分析第38-49页
    4.1 GaN E-HEMT的损耗计算第38-44页
    4.2 半桥电路的热仿真研究第44-48页
    4.3 本章小结第48-49页
5 实验验证第49-56页
    5.1 实验平台概述第49页
    5.2 双脉冲测试结果第49-53页
    5.3 不同工作点下的热性能验证第53-55页
    5.4 本章小结第55-56页
6 总结与展望第56-58页
    6.1 总结第56-57页
    6.2 展望第57-58页
致谢第58-59页
参考文献第59-64页
附录 攻读硕士学位期间发表和录用论文第64页

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