| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-19页 |
| 1.1 论文研究的背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-17页 |
| 1.2.1 绝缘子的污秽成分及其分类 | 第9-12页 |
| 1.2.2 污秽成分的测定方法 | 第12-13页 |
| 1.2.3 污秽成分的来源分析 | 第13-14页 |
| 1.2.4 污秽评估的影响因素 | 第14-16页 |
| 1.2.5 污闪电压和污秽成分关系的研究 | 第16-17页 |
| 1.3 论文的研究内容 | 第17-18页 |
| 1.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 2 试验装置及方法 | 第19-26页 |
| 2.1 自然积污试验站简介 | 第19页 |
| 2.2 试品 | 第19-20页 |
| 2.3 试验装置 | 第20-23页 |
| 2.4 试验方法 | 第23-25页 |
| 2.4.1 绝缘子自然积污成分检测方法 | 第23-24页 |
| 2.4.2 污秽成分交流污闪试验方法 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 3 离子色谱法测定绝缘子表面污秽成分 | 第26-35页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 离子色谱法概述 | 第26-27页 |
| 3.3 绘制校正曲线 | 第27-30页 |
| 3.3.1 阴离子校正曲线的绘制 | 第27-28页 |
| 3.3.2 阳离子校正曲线的绘制 | 第28-30页 |
| 3.4 绝缘子污秽成分的测定 | 第30-33页 |
| 3.4.1 绝缘子表面离子成分 | 第30-32页 |
| 3.4.2 绝缘子表面所含化合物成分 | 第32-33页 |
| 3.5 本章小结 | 第33-35页 |
| 4 可溶性污秽成分对绝缘子交流闪络特性的影响 | 第35-46页 |
| 4.1 引言 | 第35页 |
| 4.2 污秽成分的选择依据 | 第35页 |
| 4.3 不同污秽成分污闪试验结果 | 第35-38页 |
| 4.4 污秽成分对污液电导率的影响及分析 | 第38-40页 |
| 4.5 污秽成分在相同等值盐密下的交流闪络电压分析 | 第40-44页 |
| 4.6 本章小结 | 第44-46页 |
| 5 混合和不溶性污秽成分对绝缘子交流闪络特性的影响 | 第46-59页 |
| 5.1 引言 | 第46页 |
| 5.2 可溶性污秽成分混合盐试验 | 第46-52页 |
| 5.2.1 试验结果 | 第46-47页 |
| 5.2.2 等效盐密值计算 | 第47-48页 |
| 5.2.3 污秽成分溶解度对污闪电压的影响 | 第48-50页 |
| 5.2.4 污闪电压与离子活性系数的关系 | 第50-52页 |
| 5.2.5 金属阳离子对电弧热电离过程的影响 | 第52页 |
| 5.3 不溶性污秽成分试验 | 第52-57页 |
| 5.3.1 不溶性污秽成分选择依据 | 第52页 |
| 5.3.2 单种不溶物试验结果 | 第52-54页 |
| 5.3.3 混合不溶物试验结果 | 第54-56页 |
| 5.3.4 不溶性污秽成分对绝缘子污闪电压影响的原因 | 第56-57页 |
| 5.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 6 结论与展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 附录 | 第67页 |
| A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录: | 第67页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目目录: | 第67页 |
