| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第14-57页 |
| 1.1 引言 | 第14-18页 |
| 1.2 锂二次电池的简介 | 第18-22页 |
| 1.2.1 锂二次电池的发展史 | 第18-19页 |
| 1.2.2 锂二次电池的原理、结构及优缺点 | 第19-22页 |
| 1.3 锂二次电池电解质的研究现状 | 第22-25页 |
| 1.3.1 液态电解质 | 第22-23页 |
| 1.3.2 凝胶态电解质 | 第23页 |
| 1.3.3 固态电解质 | 第23-25页 |
| 1.4 全固态锂离子电池/薄膜电池的发展 | 第25-29页 |
| 1.4.1 全固态锂离子电池/薄膜电池的概念 | 第25-26页 |
| 1.4.2 薄膜材料的制备 | 第26-29页 |
| 1.5 无机固体电解质的研究进展 | 第29-45页 |
| 1.5.1 晶体型固体电解质 | 第30-33页 |
| 1.5.2 非晶固体电解质 | 第33-39页 |
| 1.5.3 玻璃-陶瓷电解质 | 第39-45页 |
| 1.6 本论文的研究背景与内容 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-57页 |
| 第2章 实验方法、仪器与测试 | 第57-69页 |
| 2.1 实验原料与仪器 | 第57-58页 |
| 2.1.1 实验原料与试剂 | 第57页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第57-58页 |
| 2.2 固体电解质材料的制备 | 第58-61页 |
| 2.2.1 磁控溅射制备电解质薄膜 | 第58-59页 |
| 2.2.2 固相反应制备硫化物电解质粉末 | 第59-60页 |
| 2.2.3 机械球磨法制备硫化物电解质粉末 | 第60页 |
| 2.2.4 两步法制备硫化物电解质粉末 | 第60-61页 |
| 2.3 固体电解质材料的电化学性能测试 | 第61-65页 |
| 2.3.1 交流阻抗测试（EIS） | 第61-64页 |
| 2.3.2 循环伏安（CV）及线性扫描（LSV）测试 | 第64页 |
| 2.3.3 直流极化测试（DCP） | 第64-65页 |
| 2.4 固体电解质材料的表面形貌与内部结构 | 第65-68页 |
| 2.4.1 扫描电子显微镜及能量色散 X 射线分析（SEM-EDS） | 第65页 |
| 2.4.2 原子力显微镜（AFM） | 第65页 |
| 2.4.3 X 射线衍射（XRD） | 第65-66页 |
| 2.4.4 红外光谱测试（FT-IR） | 第66页 |
| 2.4.5 拉曼光谱测试（Raman） | 第66页 |
| 2.4.6 X 射线光电子能谱（XPS） | 第66-67页 |
| 2.4.7 热重分析（TGA） | 第67页 |
| 2.4.8 差示扫描量热分析（DSC） | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-69页 |
| 第3章 LI-B-P-O-N 电解质薄膜的制备及其结构对性能的影响 | 第69-95页 |
| 3.1 引言 | 第69-70页 |
| 3.2 材料的制备与测试 | 第70-71页 |
| 3.2.1 制备靶材 | 第70-71页 |
| 3.2.2 制备薄膜 | 第71页 |
| 3.2.3 性能测试与表征 | 第71页 |
| 3.3 电化学性能分析与讨论 | 第71-75页 |
| 3.3.1 交流阻抗测试（EIS） | 第71-74页 |
| 3.3.2 线性扫描测试（LSV） | 第74页 |
| 3.3.3 直流极化测试（DCP） | 第74-75页 |
| 3.4 表面形貌与内部结构分析与讨论 | 第75-89页 |
| 3.4.1 扫描电子显微镜及能量色散 X 射线分析（SEM-EDS） | 第75-78页 |
| 3.4.2 原子力显微镜（AFM） | 第78页 |
| 3.4.3 X 射线衍射（XRD） | 第78-80页 |
| 3.4.4 拉曼光谱测试（Raman） | 第80-81页 |
| 3.4.5 红外光谱测试（FT-IR） | 第81-84页 |
| 3.4.6 X 射线光电子能谱（XPS） | 第84-89页 |
| 3.5 小结 | 第89-91页 |
| 参考文献 | 第91-95页 |
| 第4章 固相反应制备 LI-TI-P-S-O 系晶态电解质及性能研究 | 第95-114页 |
| 4.1 引言 | 第95-96页 |
| 4.2 材料的制备与测试 | 第96-97页 |
| 4.2.1 材料的制备 | 第96-97页 |
| 4.2.2 性能测试与表征 | 第97页 |
| 4.3 电化学性能分析与讨论 | 第97-102页 |
| 4.3.1 交流阻抗测试（EIS） | 第97-100页 |
| 4.3.2 线性扫描测试（LSV） | 第100-101页 |
| 4.3.3 直流极化测试（DCP） | 第101-102页 |
| 4.4 表面形貌与内部结构分析与讨论 | 第102-112页 |
| 4.4.1 扫描电子显微镜及能量色散 X 射线分析（SEM-EDS） | 第102-104页 |
| 4.4.2 X 射线衍射（XRD） | 第104-105页 |
| 4.4.3 红外光谱测试（FT-IR） | 第105-106页 |
| 4.4.4 拉曼光谱测试（Raman） | 第106-107页 |
| 4.4.5 X 射线光电子能谱（XPS） | 第107-112页 |
| 4.5 小结 | 第112-114页 |
| 参考文献 | 第114页 |
| 第5章 机械球磨法制备 LI-TI-P-S-O 系玻璃态电解质及性能研究 | 第114-134页 |
| 5.1 引言 | 第118页 |
| 5.2 材料的制备与测试 | 第118-120页 |
| 5.2.1 材料的制备 | 第118-119页 |
| 5.2.2 性能测试与表征 | 第119-120页 |
| 5.3 电化学性能分析与讨论 | 第120-124页 |
| 5.3.1 交流阻抗测试（EIS） | 第120-122页 |
| 5.3.2 循环伏安测试（CV） | 第122-124页 |
| 5.3.3 直流极化测试（DCP） | 第124页 |
| 5.4 表面形貌与内部结构分析与讨论 | 第124-132页 |
| 5.4.1 扫描电子显微镜及能量色散 X 射线分析（SEM-EDS） | 第124-125页 |
| 5.4.2 X 射线衍射（XRD） | 第125页 |
| 5.4.3 红外光谱测试（FT-IR） | 第125-126页 |
| 5.4.4 拉曼光谱测试（Raman） | 第126-128页 |
| 5.4.5 X 射线光电子能谱（XPS） | 第128-131页 |
| 5.4.6 热重分析（TGA）与差示扫描量热分析（DSC） | 第131-132页 |
| 5.5 小结 | 第132-134页 |
| 参考文献 | 第134页 |
| 第6章 两步法制备 LI-TI-P-S-O 系玻璃-陶瓷电解质及性能研究 | 第134-163页 |
| 6.1 引言 | 第138-139页 |
| 6.2 材料的制备与测试 | 第139-140页 |
| 6.2.1 制备前驱体 | 第139页 |
| 6.2.2 低温热处理 | 第139-140页 |
| 6.2.3 性能测试与表征 | 第140页 |
| 6.3 电化学性能分析与讨论 | 第140-147页 |
| 6.3.1 交流阻抗测试（EIS） | 第140-144页 |
| 6.3.2 循环伏安（CV）及线性扫描测试（LSV） | 第144-146页 |
| 6.3.3 直流极化测试（DCP） | 第146-147页 |
| 6.4 表面形貌与内部结构分析与讨论 | 第147-157页 |
| 6.4.1 扫描电子显微镜及能量色散 X 射线分析（SEM-EDS） | 第147-148页 |
| 6.4.2 X 射线衍射（XRD） | 第148-149页 |
| 6.4.3 红外光谱测试（FT-IR） | 第149-150页 |
| 6.4.4 拉曼光谱测试（Raman） | 第150-153页 |
| 6.4.5 X 射线光电子能谱（XPS） | 第153-157页 |
| 6.5 小结 | 第157-159页 |
| 参考文献 | 第159-163页 |
| 结论 | 第163-166页 |
| 攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第166-167页 |
| 学术论文 | 第166页 |
| 专利 | 第166-167页 |
| 致谢 | 第167-168页 |
| 作者简介 | 第168页 |
