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全双工LTE数字自干扰时频同步技术研究与实现

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第16-22页
    1.1 研究背景及意义第16-19页
    1.2 论文主要贡献第19-20页
    1.3 论文研究内容及安排第20-22页
第二章 全双工LTE数字自干扰时频同步关键技术研究现状第22-41页
    2.1 全双工自干扰抑制研究现状第22-34页
        2.1.1 天线自干扰抑制第23-24页
        2.1.2 射频自干扰抑制第24-25页
        2.1.3 数字自干扰抑制第25-29页
        2.1.4 自干扰抑制技术实验现状第29-33页
        2.1.5 全双工自干扰抑制国内研究现状第33-34页
    2.2 LTE中的时频同步技术第34-40页
        2.2.1 LTE中的时间同步技术第35-37页
        2.2.2 LTE中的载波频率同步技术第37-40页
    2.3 小结第40-41页
第三章 全双工LTE数字自干扰时频同步需求分析第41-45页
    3.1 应用场景第41-42页
    3.2 功能需求第42-43页
    3.3 指标需求第43-44页
    3.4 小结第44-45页
第四章 全双工LTE数字自干扰时频同步概要设计第45-64页
    4.1 同步结构及设计第45-49页
        4.1.1 帧结构设计和系统模型第46-48页
        4.1.2 模块划分第48页
        4.1.3 同步流程第48-49页
    4.2 时频同步误差性能分析和仿真第49-55页
        4.2.1 时间同步误差对数字自干扰抑制的影响第49-53页
        4.2.2 载波频率误差对数字自干扰抑制的影响第53-55页
    4.3 同步算法选择与性能仿真第55-63页
        4.3.1 时间粗同步第55-58页
        4.3.2 时间细同步第58-60页
        4.3.3 载波频率粗同步第60-61页
        4.3.4 载波频率细同步第61-63页
    4.4 小结第63-64页
第五章 全双工LTE数字自干扰时频同步详细设计第64-79页
    5.1 同步系统FPGA设计第64-65页
    5.2 时间粗同步设计第65-70页
        5.2.1 外部接口设计第66页
        5.2.2 工作流程设计第66-70页
    5.3 时间细同步设计第70-74页
        5.3.1 外部接口设计第70-71页
        5.3.2 工作流程设计第71-74页
    5.4 载波频率粗同步设计第74-76页
        5.4.1 外部接口设计第74-75页
        5.4.2 工作流程设计第75-76页
    5.5 载波频率细同步设计第76-78页
        5.5.1 外部接口设计第76-77页
        5.5.2 工作流程设计第77-78页
    5.6 小结第78-79页
第六章 全双工LTE数字自干扰时频同步测试与分析第79-96页
    6.1 测试链路结构第79-82页
        6.1.1 发射端结构第79-81页
        6.1.2 接收端结构第81-82页
    6.2 功能测试第82-86页
        6.2.1 功能测试条件第82-83页
        6.2.2 时间粗同步功能测试第83-84页
        6.2.3 时间细同步功能测试第84-85页
        6.2.4 载波频率粗同步功能测试第85页
        6.2.5 载波频率细同步功能测试第85-86页
    6.3 全双工LTE数字自干扰时频同步性能测试第86-94页
        6.3.1 自干扰时频同步测试条件第86-87页
        6.3.2 时间同步测试第87-90页
        6.3.3 载波频率同步测试第90-92页
        6.3.4 系统误码率测试第92-94页
    6.4 资源分析第94-95页
    6.5 小结第95-96页
第七章 结束语第96-98页
    7.1 论文总结和主要贡献第96-97页
    7.2 下一步工作的建议第97-98页
致谢第98-99页
参考文献第99-104页
个人简历第104-105页
攻读硕士学位期间的研究成果第105-106页
学位论文答辩后勘误修订说明表第106-107页

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