| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 典型结构的超声 Lamb 波无损检测技术概况 | 第10-12页 |
| 1.2.1 管道结构 Lamb 波检测技术概况 | 第10-11页 |
| 1.2.2 复合材料板的 Lamb 波检测技术概况 | 第11-12页 |
| 1.3 时间反转超声 Lamb 波检测技术研究概况 | 第12-15页 |
| 1.3.1 Lamb 波时间反转检测系统概况 | 第12-13页 |
| 1.3.2 管道结构时间反转检测技术研究概况 | 第13-14页 |
| 1.3.3 板结构时间反转检测技术研究概况 | 第14-15页 |
| 1.4 课题来源及主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 Lamb 波时间反转理论分析 | 第17-29页 |
| 2.1 Lamb 波基本理论 | 第17-18页 |
| 2.2 超声波时间反转原理 | 第18-22页 |
| 2.2.1 时间反转镜 | 第18-20页 |
| 2.2.2 Lamb 波的时间反转方法 | 第20-22页 |
| 2.2.3 改进的 Lamb 波时间反转方法 | 第22页 |
| 2.3 时间反转 Lamb 波的特性分析 | 第22-25页 |
| 2.3.1 多模态特性 | 第23页 |
| 2.3.2 边界反射及多路径效应 | 第23-24页 |
| 2.3.3 时间反转 Lamb 波的聚焦与重构 | 第24-25页 |
| 2.4 时间反转窗与聚焦位置的联系 | 第25-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 时间反转 Lamb 波检测系统设计 | 第29-39页 |
| 3.1 系统组成 | 第29-30页 |
| 3.2 检测系统触发源的选择 | 第30-32页 |
| 3.3 系统软件的主要功能设计 | 第32-34页 |
| 3.3.1 仪器控制 | 第32-33页 |
| 3.3.2 时间反转 | 第33-34页 |
| 3.3.3 损伤指数计算 | 第34页 |
| 3.4 软件主要功能模块的实现 | 第34-36页 |
| 3.4.1 基于 VISA 库的仪器控制模块 | 第34-35页 |
| 3.4.2 时间反转模块 | 第35页 |
| 3.4.3 数据存储与读取模块 | 第35-36页 |
| 3.4.4 损伤指数计算模块 | 第36页 |
| 3.5 软件的架构设计 | 第36-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 基于时间反转周向 Lamb 波的厚壁管检测方法研究 | 第39-61页 |
| 4.1 时间反转多通道聚焦方法研究 | 第39-46页 |
| 4.1.1 实验对象 | 第39-40页 |
| 4.1.2 方法的提出 | 第40-42页 |
| 4.1.3 实验研究 | 第42-46页 |
| 4.2 缺陷的周向定位 | 第46-48页 |
| 4.3 应用大范围时间反转窗的可行性研究 | 第48-59页 |
| 4.3.1 大范围时间反转窗方法的提出 | 第48-51页 |
| 4.3.2 实验研究 | 第51-59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-61页 |
| 第5章 基于时间反转方法的复合材料板缺陷检测研究 | 第61-77页 |
| 5.1 基于时间反转重构的损伤指数 | 第61-65页 |
| 5.1.1 时间反转损伤指数的定义与实现 | 第61-64页 |
| 5.1.2 一种计算损伤指数的新方法 | 第64-65页 |
| 5.2 基于时间反转 Lamb 波和传感器阵列的加权分布成像方法 | 第65-69页 |
| 5.2.1 成像原理 | 第65-66页 |
| 5.2.2 成像函数的参数确定 | 第66-69页 |
| 5.2.3 成像算法的局限性与改进 | 第69页 |
| 5.3 不同位置分层缺陷的成像实验 | 第69-75页 |
| 5.3.1 靠近传感器阵列中心的缺陷成像研究 | 第69-73页 |
| 5.3.2 靠近传感器阵列边缘的缺陷成像研究 | 第73-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-77页 |
| 结论 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-85页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
