宽带频率综合发生器的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 频率源综述 | 第10-14页 |
| 1.1 频率源简介 | 第10页 |
| 1.2 现代频率源的实现方法 | 第10-11页 |
| 1.3 频率源的主要技术要求 | 第11页 |
| 1.4 合成频率源简介 | 第11-12页 |
| 1.41 直接合成频率源 | 第11-12页 |
| 1.42 间接合成频率源 | 第12页 |
| 1.43 直接数字频率合成器 | 第12页 |
| 1.5 论文结构与内容 | 第12-14页 |
| 第二章 锁相频率合成器 | 第14-25页 |
| 2.1 锁相环工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2 环路的基本方程和相位模型 | 第15-16页 |
| 2.3 锁相环的线性能分析 | 第16-18页 |
| 2.4 锁相频率合成器的分类 | 第18-21页 |
| 2.41 数字锁相频率合成器 | 第19页 |
| 2.42 一种常用的数字锁相频率合成器 | 第19-20页 |
| 2.43 分数分频锁相频率合成器 | 第20-21页 |
| 2.5 环路滤波器 | 第21-23页 |
| 2.51 有源与无源环路滤波器 | 第21页 |
| 2.52 DC 偏移 | 第21-22页 |
| 2.53 瞬时过载 | 第22-23页 |
| 2.6 压控振荡器 | 第23-25页 |
| 2.61 频率可变范围 | 第23页 |
| 2.62 频率控制的线性 | 第23-25页 |
| 第三章 频率合成模块设计 | 第25-42页 |
| 3.1 频率合成模块指标 | 第25页 |
| 3.2 频率合成模块方案 | 第25-26页 |
| 3.3 锁相环芯片选择 | 第26-32页 |
| 3.31 锁相环基本原理 | 第28-30页 |
| 3.32 杂散性能的分析 | 第30-31页 |
| 3.33 输出频率的公式计算 | 第31-32页 |
| 3.34 射频路径 | 第32页 |
| 3.4 VCO 芯片选择 | 第32-33页 |
| 3.5 其余芯片的选择 | 第33-35页 |
| 3.51 功分器 | 第33页 |
| 3.52 四次分频器 HMC493 | 第33-34页 |
| 3.53 二次分频器 HMC492 | 第34页 |
| 3.54 功率放大器 HMC451 | 第34-35页 |
| 3.6 频率合成模块最终具体方案 | 第35-42页 |
| 3.61 频率分辨率分析 | 第36-37页 |
| 3.62 功率增益分析 | 第37页 |
| 3.63 相位噪声分析 | 第37-38页 |
| 3.64 杂散分析 | 第38-39页 |
| 3.65 锁相环仿真分析 | 第39-42页 |
| 第四章 频率综合发生器方案实现 | 第42-51页 |
| 4.1 频率综合发生器方案 | 第42页 |
| 4.2 串口控制模块 | 第42-45页 |
| 4.21 频率控制字的写操作 | 第42-44页 |
| 4.22 频率控制字的读操作 | 第44-45页 |
| 4.3 开关电源模块设计 | 第45-46页 |
| 4.31 电源输出参数 | 第45-46页 |
| 4.32 电源模块设计方案 | 第46页 |
| 4.4 PCB 电磁兼容设计 | 第46-49页 |
| 4.5 结构设计 | 第49-51页 |
| 第五章 频率合成器的调试与结果分析 | 第51-61页 |
| 5.1 调试步骤方法 | 第52-53页 |
| 5.2 各个模块调试 | 第53-54页 |
| 5.21 小数分频锁相环的调试 | 第53页 |
| 5.22 控制部分及上位机软件调试 | 第53-54页 |
| 5.3 测试方法 | 第54-55页 |
| 5.31 功率的测试 | 第54页 |
| 5.32 相位噪声的测试 | 第54页 |
| 5.33 杂散的测试 | 第54页 |
| 5.34 正确合理设置频谱仪参数 | 第54-55页 |
| 5.4 测试结果分析 | 第55-61页 |
| 结束语 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 攻读学位期间发表的论文与研究成果清单 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
