| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 导论 | 第7-16页 |
| ·研究背景与项目介绍 | 第7-9页 |
| ·文献综述与理论研究 | 第9-13页 |
| ·论文计划与研究内容 | 第13-15页 |
| ·研究方法与意义 | 第13页 |
| ·研究思路与框架 | 第13-14页 |
| ·论文研究内容 | 第14-15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 BGA测试插座升级项目WBS的建立与进度计划 | 第16-27页 |
| ·项目范围定义 | 第16-19页 |
| ·BGA测试插座升级项目WBS创建方法 | 第19-22页 |
| ·WBS分析结果 | 第22-24页 |
| ·项目进度计划 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 BGA测试插座升级项目的风险识别 | 第27-40页 |
| ·风险类别因素提取 | 第27-34页 |
| ·按照失效类型分类 | 第28-29页 |
| ·按照产生的不良影响分类 | 第29页 |
| ·优化的项目风险因素分类方法 | 第29-34页 |
| ·项目风险分类 | 第34-35页 |
| ·BGA测试插座升级项目风险分解结构的建立 | 第35-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 BGA测试插座升级项目风险评估 | 第40-46页 |
| ·选择风险分析模型和工具 | 第41页 |
| ·风险概率与影响矩阵 | 第41-42页 |
| ·风险概率评分模型 | 第41页 |
| ·风险影响评分模型 | 第41-42页 |
| ·风险等级判断模型 | 第42页 |
| ·BGA测试插座升级项目风险评估结果 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 技术类风险应对 | 第46-52页 |
| ·技术类风险的来源 | 第47-48页 |
| ·优化培训计划 | 第48-49页 |
| ·采用有效的培训方式 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第六章 物料类风险应对 | 第52-57页 |
| ·物料类风险的来源 | 第52-54页 |
| ·BGA测试插座风险的来源分析 | 第52-54页 |
| ·芯片工程样品混料风险的来源分析 | 第54页 |
| ·应对BGA测试插座的风险 | 第54-56页 |
| ·制定分阶段的需求计划 | 第54-55页 |
| ·分批采购 | 第55-56页 |
| ·应对芯片工程样品混料的风险-专人领取保管制 | 第56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第七章 资源类风险应对 | 第57-62页 |
| ·资源类风险的来源 | 第57-60页 |
| ·设定优先级 | 第60页 |
| ·增加项目设备使用时间预算余量 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第八章 项目管理类风险应对 | 第62-72页 |
| ·项目管理类风险的来源 | 第62-63页 |
| ·建立项目责任分配表 | 第63-66页 |
| ·制定统一的报告审核周期和完成日期 | 第66页 |
| ·建立多样的沟通渠道 | 第66页 |
| ·完成BGA测试插座升级项目风险管理总表 | 第66-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第九章 结论与研究展望 | 第72-76页 |
| ·全文回顾 | 第72-73页 |
| ·适用情形 | 第73-74页 |
| ·不足与展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 附录一 调查问卷1 | 第79-80页 |
| 附录二 调查问卷2 | 第80-81页 |
| 附录三 调查问卷3 | 第81-82页 |
| 附录四 调查问卷4 | 第82-83页 |