摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 课题研究背景 | 第9-10页 |
1.2 CCD 在视觉检测中的应用 | 第10页 |
1.3 国内研究现状 | 第10-15页 |
1.4 课题研究创新点 | 第15-16页 |
1.5 课题研究内容 | 第16-17页 |
第二章 漏光度检测及数据处理系统 | 第17-44页 |
2.1 用于漏光检测的CCD 方案探讨 | 第17-22页 |
2.1.1 线阵CCD 特点 | 第17-18页 |
2.1.2 线阵动态圆周扫描测量实验 | 第18-20页 |
2.1.3 面阵CCD 优劣 | 第20-21页 |
2.1.4 面阵相机的确定 | 第21-22页 |
2.2 漏光度探测方案的设计 | 第22-25页 |
2.2.1 多传感器与单一传感器的选择 | 第23页 |
2.2.2 采集方式的选择 | 第23-24页 |
2.2.3 面阵拖影问题探究 | 第24-25页 |
2.3 漏光检测系统 | 第25-29页 |
2.3.1 漏光检测原理 | 第25-26页 |
2.3.2 光密封度检测标准 | 第26-27页 |
2.3.3 漏光度参数的计算原理 | 第27-28页 |
2.3.4 硬件实验装置的设计 | 第28-29页 |
2.4 图像处理 | 第29-36页 |
2.4.1 开发环境及工具 | 第30页 |
2.4.2 图像剪切 | 第30-31页 |
2.4.3 阈值分割 | 第31-33页 |
2.4.4 图像反色 | 第33页 |
2.4.5 图像细化 | 第33-35页 |
2.4.6 细化后的连接算法 | 第35-36页 |
2.5 图像数据采集及算法设计 | 第36-42页 |
2.5.1 漏光度数据采集及处理程序总体设计 | 第36-38页 |
2.5.2 累计漏光度数处理程序设计 | 第38-40页 |
2.5.3 连续最大漏光度数处理程序设计 | 第40页 |
2.5.4 开口左右规定度数之内漏光程序设计 | 第40-42页 |
2.6 漏光检测中的问题及解决途径 | 第42-43页 |
2.7 本章小结 | 第43-44页 |
第三章 闭口间隙检测及数据处理系统 | 第44-59页 |
3.1 活塞环闭口间隙检测方案的选择 | 第44-45页 |
3.2 间隙检测系统构架 | 第45-46页 |
3.3 闭口间隙检测系统硬件选择 | 第46-49页 |
3.4 闭口间隙测量算法及程序设计 | 第49-58页 |
3.4.1 阈值选取 | 第49-50页 |
3.4.2 活塞环闭口间隙测量算法 | 第50-52页 |
3.4.3 闭口间隙自适应测量算法 | 第52-58页 |
3.4.3.1 轮廓提取 | 第53-56页 |
3.4.3.2 最小二乘法拟合直线 | 第56-58页 |
3.5 本章小结 | 第58-59页 |
第四章 与PLC 通信的软件设计 | 第59-70页 |
4.1 通信方式的选择 | 第59-60页 |
4.2 通信协议的制定 | 第60-64页 |
4.2.1 通信协议原理 | 第60-63页 |
4.2.2 通信协议 | 第63-64页 |
4.3 串口通信在PC 端实现 | 第64-69页 |
4.3.1 VC 下实现串行通信的几种方案 | 第64-68页 |
4.3.2 多线程串口编程工具CSerialPort 类 | 第68-69页 |
4.4 本章小结 | 第69-70页 |
第五章 实验结果及误差分析 | 第70-76页 |
5.1 活塞环漏光度测量重复性数据 | 第70-72页 |
5.1.1 同片环一次装卡测量重复性实验 | 第70-71页 |
5.1.2 影响漏光度测量结果误差分析 | 第71-72页 |
5.2 活塞环闭口间隙重复性测量实验 | 第72-75页 |
5.2.1 同片环一次装卡多次测量重复性实验 | 第73页 |
5.2.2 同片环随机多次装卡测量重复性实验 | 第73-74页 |
5.2.3 同片环一次装卡不同角度定位的测量重复性实验 | 第74页 |
5.2.4 影响闭口间隙测量误差分析 | 第74-75页 |
5.3 本章小结 | 第75-76页 |
第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
6.1 全文总结 | 第76-77页 |
6.2 展望 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-81页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第81-82页 |
致谢 | 第82页 |