摘要 | 第3-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 背景与研究意义 | 第9-26页 |
1.1 实验室电源的现况和发展 | 第9-10页 |
1.2 芯片自动化测试的需求 | 第10-25页 |
1.2.1 芯片自动化测试现况 | 第10-19页 |
1.2.2 多路可调电源(ActiveLoad)设计的必要性 | 第19-25页 |
1.3 本章小结 | 第25-26页 |
第二章 多路可调负载电路设计原理 | 第26-57页 |
2.1 负载的定义 | 第26-27页 |
2.2 设计原理与系统架构 | 第27-44页 |
2.3 电路原理图 | 第44-56页 |
2.3.1 MCU 模块(option): | 第45-46页 |
2.3.2 UART 接口模块 | 第46-47页 |
2.3.3 USB 接口模块(option) | 第47-48页 |
2.3.4 EEPROM 模块 | 第48页 |
2.3.5 稳压电源模块 | 第48-49页 |
2.3.6 系统电源模块 | 第49-52页 |
2.3.7 FPGA 模块 | 第52-56页 |
2.4 本章小结 | 第56-57页 |
第三章 FPGA 内部设计 | 第57-71页 |
3.1 FPGA 的内部逻辑设计 | 第57-61页 |
3.2 程序实现伪代码 | 第61-70页 |
3.2.1 ActiveLoadTopMain 主程序 | 第61-62页 |
3.2.2 ClockDiv 时钟分频 | 第62-63页 |
3.2.3 CurrentControl 电流控制 | 第63-65页 |
3.2.4 RegisterW/R 寄存器信息读写 | 第65-68页 |
3.2.5 ActiveLoadDataType 数据位定义 | 第68-69页 |
3.2.6 UARTtoSerialPortComm 串口通信模块 | 第69-70页 |
3.3 本章小结 | 第70-71页 |
第四章 系统化测试验证 | 第71-94页 |
4.1 基于 LabVIEW 的上位机程序设计 | 第71-76页 |
4.2 测试验证 | 第76-83页 |
4.3 设计改善实例 | 第83-87页 |
4.4 测试结果 | 第87-93页 |
4.5 本章小结 | 第93-94页 |
第五章 全文总结 | 第94-99页 |
5.1 主要结论 | 第94-97页 |
5.2 研究展望 | 第97-98页 |
5.3 实际案例 | 第98页 |
5.3.1 板卡输出测试 | 第98页 |
5.3.2 电池充放电测试 | 第98页 |
5.4 本章小结 | 第98-99页 |
参考文献 | 第99-102页 |
AD5206 管脚功能表(附录 1) | 第102-103页 |
FPGA 寄存器定义表(附录 2) | 第103-105页 |
致谢 | 第105-106页 |
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第106-108页 |