| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 军用装备检测系统国内外发展现状 | 第9-10页 |
| 1.1.1 国外现状 | 第9-10页 |
| 1.1.2 国内现状 | 第10页 |
| 1.2 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.3 本论文的主要内容 | 第11-13页 |
| 2 测试总线技术研究 | 第13-22页 |
| 2.1 概述 | 第13-15页 |
| 2.1.1 GPIB 总线 | 第13-14页 |
| 2.1.2 VXI 总线 | 第14页 |
| 2.1.3 PCI 总线 | 第14-15页 |
| 2.1.4 PXI 总线 | 第15页 |
| 2.1.5 LXI 总线 | 第15页 |
| 2.2 测试总线技术比较 | 第15-16页 |
| 2.3 PXI 总线原理 | 第16-21页 |
| 2.3.1 PXI 系统的组成 | 第16-17页 |
| 2.3.2 PXI 机械特性 | 第17-18页 |
| 2.3.3 电气特性 | 第18-20页 |
| 2.3.4 软件特性 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 3 系统需求分析及总体设计 | 第22-27页 |
| 3.1 需求分析 | 第22-23页 |
| 3.1.1 功能需求 | 第22页 |
| 3.1.2 性能需求 | 第22-23页 |
| 3.1.3 其它需求 | 第23页 |
| 3.2 总体方案设计 | 第23-26页 |
| 3.2.1 硬件设计 | 第23-25页 |
| 3.2.2 功能分解 | 第25-26页 |
| 3.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 4 PXI 检测板卡硬件设计与实现 | 第27-44页 |
| 4.1 PXI 检测板卡总体方案 | 第27-29页 |
| 4.2 PXI 检测板卡的电路设计 | 第29-34页 |
| 4.2.1 PXI 总线接口电路设计 | 第29-32页 |
| 4.2.2 接口芯片 | 第32-33页 |
| 4.2.3 配置电路设计 | 第33-34页 |
| 4.2.4 FPGA 控制电路的设计 | 第34页 |
| 4.3 CPU 电路设计 | 第34-36页 |
| 4.4 供电设计 | 第36-38页 |
| 4.5 时钟电路设计 | 第38-39页 |
| 4.6 接口功能模块设计 | 第39-40页 |
| 4.7 板卡 PCB 设计 | 第40-43页 |
| 4.7.1 叠层 | 第40-41页 |
| 4.7.2 布局 | 第41-43页 |
| 4.7.3 布线 | 第43页 |
| 4.8 本章小结 | 第43-44页 |
| 5 综合检测系统软件设计与实现 | 第44-64页 |
| 5.1 系统的软件组成 | 第44-45页 |
| 5.2 软件开发工具选择 | 第45-46页 |
| 5.3 PXI 嵌入式控制器端软件设计 | 第46-54页 |
| 5.3.1 WDM 驱动程序设计 | 第46-49页 |
| 5.3.2 VISA 接口库设计 | 第49-51页 |
| 5.3.3 板卡驱动程序设计 | 第51-52页 |
| 5.3.4 界面程序设计与实现 | 第52-54页 |
| 5.4 PXI 检测板卡内部软件设计 | 第54-56页 |
| 5.4.1 PXI 通信模块设计 | 第54页 |
| 5.4.2 信令解析程序设计 | 第54-55页 |
| 5.4.3 测试功能模块程序设计 | 第55-56页 |
| 5.5 PXI 检测板卡 FPGA 程序设计与实现 | 第56-62页 |
| 5.5.1 PXI 接口的 FPGA 程序设计 | 第57-62页 |
| 5.5.2 接口功能模块的 FPGA 程序设计 | 第62页 |
| 5.6 本章小结 | 第62-64页 |
| 6 综合检测系统的调试与测试结果分析 | 第64-68页 |
| 6.1 PXI 检测板卡的硬件调试 | 第64-65页 |
| 6.2 PXI 检测板卡软件调试 | 第65-66页 |
| 6.3 系统测试结果与分析 | 第66-68页 |
| 6.3.1 V 接口功能测试 | 第66页 |
| 6.3.2 K 接口功能测试 | 第66页 |
| 6.3.3 V.24 口功能测试 | 第66-67页 |
| 6.3.4 V.35 口功能测试 | 第67页 |
| 6.3.5 E1 口功能测试 | 第67页 |
| 6.3.6 以太网口功能测试 | 第67-68页 |
| 7 总结与展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-71页 |