| 摘要 | 第6-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 图像测量技术简介 | 第13页 |
| 1.3 图像测量技术研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4 本文的主要内容及基本框架 | 第15-16页 |
| 1.5 本章小结 | 第16-17页 |
| 第2章 图像处理相关技术研究 | 第17-25页 |
| 2.1 图像增强处理 | 第17-19页 |
| 2.1.1 灰度图像与灰度直方图 | 第17-18页 |
| 2.1.2 灰度图像增强 | 第18-19页 |
| 2.2 图像平滑去噪 | 第19-24页 |
| 2.2.1 图像的噪声 | 第20页 |
| 2.2.2 邻域平均法 | 第20-21页 |
| 2.2.3 中值滤波法 | 第21-22页 |
| 2.2.4 频域滤波 | 第22-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 图像精密测量中边缘检测问题的研究 | 第25-44页 |
| 3.1 像素级边缘检测算法 | 第25-32页 |
| 3.1.1 图像边缘特征分析 | 第25-26页 |
| 3.1.2 传统边缘检测算子 | 第26-29页 |
| 3.1.3 canny边缘检测算子 | 第29-32页 |
| 3.2 亚像素级边缘检测算子 | 第32-37页 |
| 3.2.1 亚像素定位原理 | 第32-33页 |
| 3.2.2 插值法 | 第33-34页 |
| 3.2.3 矩方法 | 第34-35页 |
| 3.2.4 拟合法 | 第35-37页 |
| 3.3 改进的边缘定位算法 | 第37-43页 |
| 3.3.1 像素级边缘粗定位 | 第37-39页 |
| 3.3.2 亚像素级精确定位 | 第39-41页 |
| 3.3.3 MATLAB算法验证 | 第41-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 图像测量系统的设计及实验 | 第44-56页 |
| 4.1 图像测量原理 | 第44-45页 |
| 4.2 图像测量系统的设计 | 第45-50页 |
| 4.2.1 系统硬件设计 | 第45-47页 |
| 4.2.2 系统软件设计 | 第47-50页 |
| 4.3 图像测量系统实现 | 第50-53页 |
| 4.3.1 系统标定 | 第50页 |
| 4.3.2 图像处理及测量 | 第50-52页 |
| 4.3.3 图像测量结果分析 | 第52-53页 |
| 4.4 测量误差分析 | 第53-56页 |
| 4.4.1 硬件设备因素 | 第54页 |
| 4.4.2 环境因素 | 第54-55页 |
| 4.4.3 软件算法因素 | 第55-56页 |
| 第5章 图像测量系统的应用 | 第56-65页 |
| 5.1 数控微磨床的结构及功能 | 第56-59页 |
| 5.1.1 数控微磨床研制的必要性 | 第56-57页 |
| 5.1.2 数控微磨床的结构和功能 | 第57-58页 |
| 5.1.3 基于数控微磨床加工的微型零件尺寸测量的需求 | 第58-59页 |
| 5.2 数控微磨床图像测量系统的硬件设计 | 第59-60页 |
| 5.3 直线拟合 | 第60-62页 |
| 5.4 应用实例 | 第62-64页 |
| 5.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和获得的科研成果 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |