| 摘要 | 第3-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 注释表 | 第13-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-21页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第14页 |
| 1.2 液体电极大气压放电发射光谱检测技术 | 第14-15页 |
| 1.3 国内外研究进展 | 第15-19页 |
| 1.4 论文结构与内容 | 第19-21页 |
| 第2章 pulsed-ECAD系统等离子体电学特性研究 | 第21-27页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 实验装置介绍 | 第21-23页 |
| 2.2.1 放电系统 | 第22页 |
| 2.2.2 光谱数据采集系统 | 第22-23页 |
| 2.2.3 测量系统 | 第23页 |
| 2.2.4 标准溶液配制 | 第23页 |
| 2.3 pulsed-ECAD系统的电学特性和检出限的定义 | 第23-25页 |
| 2.3.1 系统放电等离子体的电学特性 | 第23-25页 |
| 2.3.2 金属元素检出限计算方法 | 第25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-27页 |
| 第3章 pulsed-ECAD发射光谱与金属元素检测分析 | 第27-44页 |
| 3.1 引言 | 第27-28页 |
| 3.2 pulsed-ECAD系统的光谱特性 | 第28-32页 |
| 3.2.1 等离子体的光谱特性 | 第28-29页 |
| 3.2.2 系统发射谱线的垂直空间分布 | 第29-31页 |
| 3.2.3 空白溶液背景信号分析 | 第31-32页 |
| 3.3 pulsed-ECAD发射光谱影响因素 | 第32-37页 |
| 3.3.1 酸化试剂对光谱强度的影响 | 第33页 |
| 3.3.2 溶液pH值对光谱强度的影响 | 第33-34页 |
| 3.3.3 放电电压对光谱强度的影响 | 第34-35页 |
| 3.3.4 放电频率对光谱强度的影响 | 第35-36页 |
| 3.3.5 电极极间距对光谱强度的影响 | 第36-37页 |
| 3.3.6 进样流速对光谱强度的影响 | 第37页 |
| 3.4 pulsed-ECAD发射光谱检测金属元素 | 第37-42页 |
| 3.4.1 实验条件 | 第38页 |
| 3.4.2 光谱分析 | 第38-39页 |
| 3.4.3 金属元素的检出限 | 第39-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-44页 |
| 第4章 pulsed-ECAD系统放电等离子体特性研究 | 第44-59页 |
| 4.1 引言 | 第44页 |
| 4.2 pulsed-ECAD系统电子激发温度 | 第44-48页 |
| 4.2.1 电子激发温度的计算 | 第44-45页 |
| 4.2.2 电子激发温度在等离子体内部的空间分布 | 第45-46页 |
| 4.2.3 放电电压对电子激发温度的影响 | 第46-47页 |
| 4.2.4 放电频率对电子激发温度的影响 | 第47-48页 |
| 4.3 pulsed-ECAD系统振动温度 | 第48-52页 |
| 4.3.1 振动温度的计算 | 第48-50页 |
| 4.3.2 振动温度在等离子体内部的空间分布 | 第50页 |
| 4.3.3 放电电压对振动温度的影响 | 第50-51页 |
| 4.3.4 放电频率对振动温度的影响 | 第51-52页 |
| 4.4 pulsed-ECAD系统转动温度 | 第52-56页 |
| 4.4.1 转动温度的计算 | 第52-53页 |
| 4.4.2 转动温度在等离子体内部的空间分布 | 第53-54页 |
| 4.4.3 放电电压对振动温度的影响 | 第54-55页 |
| 4.4.4 放电频率对振动温度的影响 | 第55-56页 |
| 4.5 pulsed-ECAD系统电子数密度 | 第56-57页 |
| 4.5.1 电子数密度的计算 | 第56页 |
| 4.5.2 电子数密度在等离子体内部的空间分布 | 第56-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-59页 |
| 第5章 总结与展望 | 第59-61页 |
| 5.1 总结 | 第59-60页 |
| 5.2 展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 攻读硕士学位期间从事的科研工作及取得的成果 | 第70页 |
