致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
1 引言 | 第12-23页 |
1.1 过程层析成像技术 | 第12-16页 |
1.1.1 过程层析成像技术的发展历程 | 第12-13页 |
1.1.2 过程层析成像技术的基本原理和发展趋势 | 第13-14页 |
1.1.3 电学层析成像技术 | 第14-16页 |
1.2 电磁层析成像技术 | 第16-22页 |
1.2.1 电磁层析成像技术概述 | 第16页 |
1.2.2 电磁层析成像技术的发展及现状 | 第16-20页 |
1.2.3 电磁层析成像技术的应用 | 第20-21页 |
1.2.4 电磁层析成像技术的发展方向 | 第21-22页 |
1.3 论文主要研究内容 | 第22-23页 |
2 电磁层析成像的基本理论 | 第23-40页 |
2.1 电磁层析成像系统概述 | 第23-26页 |
2.1.1 电磁层析成像系统的基本原理 | 第23-24页 |
2.1.2 电磁层析成像系统的组成 | 第24-25页 |
2.1.3 两种典型的电磁层析成像系统 | 第25-26页 |
2.2 电磁层析成像正问题综述 | 第26-33页 |
2.2.1 电磁层析成像正问题模型 | 第26-29页 |
2.2.2 电磁层析成像正问题的求解方法 | 第29-30页 |
2.2.3 有限元求解电磁层析成像正问题 | 第30-33页 |
2.3 电磁层析成像逆问题综述 | 第33-34页 |
2.3.1 电磁层析成像逆问题模型 | 第33页 |
2.3.2 电磁层析成像逆问题求解中的重点与难点 | 第33-34页 |
2.4 常见的电磁层析成像图像重建算法介绍 | 第34-37页 |
2.4.1 非迭代算法 | 第35-36页 |
2.4.2 迭代算法 | 第36-37页 |
2.5 EMT重建图像质量评价 | 第37-39页 |
2.5.1 影响重建图像质量的主要因素 | 第37-38页 |
2.5.2 重建图像质量的评价标准 | 第38-39页 |
2.6 本章小结 | 第39-40页 |
3 电磁层析成像系统传感器阵列结构研究 | 第40-59页 |
3.1 多样化传感器阵列结构模型概述 | 第40页 |
3.1.1 非全包围式传感器阵列结构的研究价值 | 第40页 |
3.1.2 多种EMT系统传感器结构参数 | 第40页 |
3.2 全包围式“O”型传感器阵列模型 | 第40-46页 |
3.2.1 “O”型传感器仿真模型结构和单元剖分说明 | 第41-42页 |
3.2.2 “O”型传感器灵敏度图像分析 | 第42-45页 |
3.2.3 “O”型传感器成像效果分析 | 第45-46页 |
3.3 半包围式“C”型传感器阵列模型 | 第46-49页 |
3.3.1 “C”型传感器仿真模型结构和单元剖分说明 | 第46页 |
3.3.2 “C”型传感器灵敏度图像分析 | 第46-48页 |
3.3.3 “C”型传感器成像效果分析 | 第48-49页 |
3.4 半包围式倒“L”型传感器阵列模型 | 第49-54页 |
3.4.1 倒“L”型传感器仿真模型结构和单元剖分说明 | 第49-51页 |
3.4.2 倒“L”型传感器灵敏度图像分析 | 第51-53页 |
3.4.3 倒“L”型传感器成像效果分析 | 第53-54页 |
3.5 半包围式平板型传感器阵列模型 | 第54-58页 |
3.5.1 平板型传感器仿真模型结构和单元剖分说明 | 第54-55页 |
3.5.2 平板型传感器灵敏度图像分析 | 第55-57页 |
3.5.3 平板型传感器成像效果分析 | 第57-58页 |
3.6 本章小结 | 第58-59页 |
4 电磁层析三维图像重建研究 | 第59-71页 |
4.1 三维图像重建意义和方法 | 第59-61页 |
4.1.1 三维EMT研究意义 | 第59页 |
4.1.2 三维EMT图像重建方法 | 第59-61页 |
4.2 三维传感器阵列模型 | 第61-62页 |
4.3 三维灵敏度分析 | 第62-66页 |
4.3.1 轴向的灵敏度分析 | 第62-65页 |
4.3.2 径向的灵敏度分析 | 第65-66页 |
4.4 三维图像重建 | 第66-69页 |
4.4.1 三维图像重建算法 | 第66-67页 |
4.4.2 三维图像质量评价参数 | 第67-68页 |
4.4.3 三维图像重建结果分析 | 第68-69页 |
4.5 本章小结 | 第69-71页 |
5 总结与展望 | 第71-73页 |
5.1 论文总结 | 第71页 |
5.2 工作展望 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-76页 |
作者简历 | 第76-78页 |
学位论文数据集 | 第78页 |