| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-24页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-15页 |
| 1.1.1 工程结构变形测量中的典型需求及研究现状 | 第10-11页 |
| 1.1.2 光测力学中的主要测试技术 | 第11-15页 |
| 1.2 工程实际测量中的两种光测力学测试技术 | 第15-18页 |
| 1.2.1 数字图像相关法 | 第15-17页 |
| 1.2.2 剪切散斑干涉法 | 第17-18页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第18-20页 |
| 参考文献 | 第20-24页 |
| 第二章 高分辨率光学引伸计的原理及应用 | 第24-59页 |
| 2.1 引言 | 第24-25页 |
| 2.2 二维数字图像相关测量系统的组成及原理 | 第25-37页 |
| 2.2.1 二维数字图像相关测量系统的组成 | 第25-26页 |
| 2.2.2 二维数字图像相关的基本原理 | 第26-27页 |
| 2.2.3 相关函数 | 第27-29页 |
| 2.2.4 整像素位移的相关搜索 | 第29-30页 |
| 2.2.5 亚像素定位技术 | 第30-37页 |
| 2.3 应变计算方法 | 第37-39页 |
| 2.4 光学引伸计的原理及其构成 | 第39-44页 |
| 2.4.1 光学引伸计的原理 | 第39-41页 |
| 2.4.2 光学引伸计中的离面位移影响的消除 | 第41-44页 |
| 2.5 单轴拉伸试件的测量 | 第44-55页 |
| 2.5.1 铝片表面拉伸应变的测量 | 第44-52页 |
| 2.5.2 竹胶合薄板表面拉伸应变和弹性模量的测量 | 第52-53页 |
| 2.5.3 基于环芯法的混凝土现存应变测量 | 第53-55页 |
| 2.6 本章小结 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 第三章 超分辨率数字图像采集技术用于提高面内非均匀变形测量分辨率 | 第59-87页 |
| 3.1 引言 | 第59-60页 |
| 3.2 基于远心镜头的图像超分辨率原理 | 第60-68页 |
| 3.2.1 远心镜头原理 | 第61-62页 |
| 3.2.2 基于远心镜头和平板玻璃的光场平移 | 第62-66页 |
| 3.2.3 图像超分辨率原理 | 第66-68页 |
| 3.3 图像超分辨率的数字图像模拟试验 | 第68-76页 |
| 3.4 数字图像相关方法位移和应变测量分辨率的提高 | 第76-83页 |
| 3.4.1 图像超分辨率设备 | 第76-77页 |
| 3.4.2 刚体面内旋转实验 | 第77-83页 |
| 3.5 本章小结 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-87页 |
| 第四章 基于剪切散斑干涉的离面位移测量方法 | 第87-110页 |
| 4.1 引言 | 第87-88页 |
| 4.2 剪切散斑干涉术测量原理 | 第88-96页 |
| 4.2.1 离面位移梯度测量原理 | 第88-91页 |
| 4.2.2 傅里叶变换法 | 第91-93页 |
| 4.2.3 时间相移法 | 第93-95页 |
| 4.2.4 相位解包裹 | 第95-96页 |
| 4.3 双剪切散斑干涉光路 | 第96-98页 |
| 4.4 两步积分法 | 第98-99页 |
| 4.5 实验验证 | 第99-107页 |
| 4.5.1 模拟试验 | 第99-102页 |
| 4.5.2 周边固支平板离面位移的测量 | 第102-107页 |
| 4.6 本章小结 | 第107-108页 |
| 参考文献 | 第108-110页 |
| 第五章 基于剪切散斑干涉的真空平板玻璃离面位移测量 | 第110-119页 |
| 5.1 引言 | 第110-111页 |
| 5.2 剪切散斑干涉测量系统 | 第111-115页 |
| 5.2.1 硬件系统 | 第111-112页 |
| 5.2.2 相移控制与图像采集软件 | 第112-115页 |
| 5.3 真空平板玻璃离面位移的测量 | 第115-117页 |
| 5.4 本章小结 | 第117-118页 |
| 参考文献 | 第118-119页 |
| 第六章 总结与展望 | 第119-121页 |
| 6.1 全文工作总结 | 第119-120页 |
| 6.2 今后工作展望 | 第120-121页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第121-122页 |
| 致谢 | 第122页 |
