| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 图目录 | 第9-12页 |
| 表目录 | 第12-13页 |
| 1 绪论 | 第13-19页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第13-15页 |
| ·国内外研究与应用现状 | 第15-17页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第17页 |
| ·论文章节安排 | 第17-19页 |
| 2 单光子探测基本理论与方法 | 第19-49页 |
| ·单光子雪崩二极管的理论基础 | 第19-32页 |
| ·单光子雪崩二极管的半导体结构 | 第19-23页 |
| ·单光子雪崩二极管的工作模式 | 第23-24页 |
| ·单光子雪崩二极管的性能参数 | 第24-32页 |
| ·单光子雪崩二极管的驱动电路 | 第32-38页 |
| ·被动淬灭原理 | 第32-34页 |
| ·主动淬灭原理 | 第34-36页 |
| ·主动-被动结合淬灭原理 | 第36-37页 |
| ·门控方式驱动原理 | 第37-38页 |
| ·门控方式下的雪崩信号提取方法 | 第38-43页 |
| ·符合门控法 | 第39页 |
| ·同轴电缆反射法 | 第39-40页 |
| ·自差分方法 | 第40-41页 |
| ·互差分方法 | 第41-43页 |
| ·温度和偏压对单光子雪崩二极管性能的影响 | 第43-46页 |
| ·温度对单光子雪崩二极管性能的影响 | 第43-44页 |
| ·偏压对单光子雪崩二极管性能的影响 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-49页 |
| 3 高速单光子探测的互差分技术研究 | 第49-77页 |
| ·国内外两种APD 的半导体结构和特性分析 | 第49-51页 |
| ·基于国外APD 验证低采样率下互差分方法探测单光子的有效性 | 第51-66页 |
| ·基于PGA400 的互差分方法讨论 | 第51-52页 |
| ·PGA400 测试原理 | 第52-59页 |
| ·基于PGA400 的互差分方法研究 | 第59-66页 |
| ·基于国内APD 验证高采样率下双APD 互差分方法 | 第66-74页 |
| ·基于国产APD 的互差分方法讨论 | 第66页 |
| ·国产APD 测试原理 | 第66-67页 |
| ·基于国产APD 的互差分方法研究 | 第67-74页 |
| ·互差分方法总结与国内外两种APD 的特性分析 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 4 基于压缩传感理论的单光子计数成像系统 | 第77-87页 |
| ·极弱光成像技术背景 | 第77-78页 |
| ·压缩传感理论 | 第78-79页 |
| ·稀疏重建算法 | 第79-81页 |
| ·系统框架设计 | 第81-82页 |
| ·模拟实验结果 | 第82-86页 |
| ·本章小结 | 第86-87页 |
| 5 总结与展望 | 第87-89页 |
| ·论文工作总结 | 第87-88页 |
| ·研究展望 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-93页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第93页 |
| 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第93-95页 |
| 致谢 | 第95页 |