FPGA互连自动化测试方法研究
| 目录 | 第2-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第8-21页 |
| 1.1 FPGA概述 | 第8-15页 |
| 1.1.1 FPGA发展与应用 | 第8-10页 |
| 1.1.2 FPGA结构简介 | 第10-15页 |
| 1.2 FPGA测试 | 第15-18页 |
| 1.2.1 芯片测试 | 第15-16页 |
| 1.2.2 FPGA测试 | 第16-18页 |
| 1.2.3 测试设备 | 第18页 |
| 1.3 研究动机与目标 | 第18-19页 |
| 1.4 本文的研究内容与主要贡献 | 第19页 |
| 1.5 本文的组织结构 | 第19-21页 |
| 第二章 研究背景 | 第21-32页 |
| 2.1 FPGA互连测试介绍 | 第21-23页 |
| 2.1.1 互连资源分类 | 第21页 |
| 2.1.2 故障模型 | 第21-22页 |
| 2.1.3 故障覆盖的条件 | 第22页 |
| 2.1.4 激励施加方法 | 第22-23页 |
| 2.2 研究现状 | 第23-32页 |
| 2.2.1 全局互连测试方法研究 | 第24-27页 |
| 2.2.2 局部互连测试方法研究 | 第27-29页 |
| 2.2.3 覆盖率统计方法 | 第29-32页 |
| 第三章 局部互连测试方法研究 | 第32-40页 |
| 3.1 芯片结构介绍 | 第32-33页 |
| 3.2 BIST电路实现 | 第33-35页 |
| 3.2.1 TPG单元设计 | 第34页 |
| 3.2.2 ORA单元设计 | 第34-35页 |
| 3.3 局部互连测试方法 | 第35-40页 |
| 第四章 全局互连测试方法研究 | 第40-48页 |
| 4.1 新型FPGA互连结构的变化 | 第40-42页 |
| 4.2 新型FPGA互连结构对互连测试的挑战 | 第42-43页 |
| 4.3 测试方案 | 第43-44页 |
| 4.3.1 故障覆盖的条件 | 第43页 |
| 4.3.2 故障覆盖条件的等价转换 | 第43-44页 |
| 4.4 全局互连测试算法 | 第44-48页 |
| 4.4.1 深度优先搜索的改进 | 第44-45页 |
| 4.4.2 互连测试算法流程 | 第45-46页 |
| 4.4.3 时间复杂度分析 | 第46-48页 |
| 第五章 实验结果 | 第48-53页 |
| 5.1 BIST电路仿真 | 第48-49页 |
| 5.2 局部互连测试结果 | 第49-50页 |
| 5.3 适应新型FPGA结构的全局互连测试结果 | 第50-53页 |
| 第六章 总结和展望 | 第53-55页 |
| 6.1 全文工作总结 | 第53页 |
| 6.2 创新点总结 | 第53-54页 |
| 6.3 未来工作展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 附录 攻读硕士期间科研成果 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
