TOFD超声检测系统的研制
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-13页 |
·超声衍射时差法 | 第8-9页 |
·TOFD技术发展与应用 | 第9-10页 |
·TOFD研究的意义 | 第10-12页 |
·课题研究的主要工作 | 第12-13页 |
第二章 TOFD超声探伤的基本原理 | 第13-20页 |
·超声探伤的物理基础 | 第13页 |
·TOFD技术检测的原理 | 第13-18页 |
·超声衍射现象 | 第13-14页 |
·TOFD技术探伤示意图 | 第14-16页 |
·TOFD技术探伤信号特征及处理 | 第16-17页 |
·TOFD技术探伤的数学模型 | 第17-18页 |
·TOFD检测系统构成 | 第18-20页 |
第三章 TOFD法扫描及显示方式 | 第20-27页 |
·数据显示方式及扫描方式 | 第20-22页 |
·非平行扫查 | 第20-21页 |
·平行扫描 | 第21-22页 |
·缺陷判定 | 第22-25页 |
·TOFD改进 | 第25-27页 |
·上表面盲区 | 第25页 |
·下表面盲区 | 第25-27页 |
第四章 TOFD数据采集卡 | 第27-43页 |
·超声发射电路 | 第28-29页 |
·超声限幅电路 | 第29页 |
·超声增益可控电路 | 第29-32页 |
·前置放大器 | 第31页 |
·微分梯形网络 | 第31页 |
·增益控制 | 第31页 |
·固定增益放大器 | 第31-32页 |
·超声信号模数转换 | 第32-34页 |
·单端信号差分化 | 第32-33页 |
·模数转换 | 第33-34页 |
·核心控制FPGA | 第34-43页 |
·FPGA概述 | 第34-35页 |
·FPGA的开发流程 | 第35-39页 |
·硬件描述语言VHDL | 第39-41页 |
·系统控制模块 | 第41页 |
·窄脉冲产生模块 | 第41-42页 |
·采样模块 | 第42-43页 |
第五章 系统波形采集试验 | 第43-48页 |
·界面编写软件的选择 | 第43页 |
·波形采集 | 第43-48页 |
第六章 全文总结与工作展望 | 第48-50页 |
·总结 | 第48页 |
·对后续工作的展望 | 第48-50页 |
参考文献 | 第50-51页 |
致谢 | 第51-52页 |
个人简介 | 第52页 |