| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 微波介质陶瓷简述 | 第10页 |
| 1.2 微波介质陶瓷的主要性能参数 | 第10-12页 |
| 1.2.1 相对介电常数(er) | 第11页 |
| 1.2.2 品质因数(Q) | 第11页 |
| 1.2.3 谐振频率温度系数(τ_f) | 第11-12页 |
| 1.2.4 混合物法则 | 第12页 |
| 1.3 低介微波陶瓷体系 | 第12-16页 |
| 1.3.1 硅酸盐(M_2SiO_4, M = Zn, Mg) | 第12-13页 |
| 1.3.2 Al_2O_3基陶瓷 | 第13-14页 |
| 1.3.3 R_2BaMO_5 | 第14-15页 |
| 1.3.4 MgTiO_3 | 第15-16页 |
| 1.3.5 尖晶石系陶瓷 | 第16页 |
| 1.4 微波介质陶瓷的合成方法 | 第16-18页 |
| 1.4.1 水热合成法 | 第17-18页 |
| 1.4.2 高温固相法 | 第18页 |
| 1.5 本文的研究背景及内容 | 第18-20页 |
| 第二章 实验过程与测试方法 | 第20-30页 |
| 2.1 实验原料 | 第20页 |
| 2.2 实验设备与表征测试仪器 | 第20-22页 |
| 2.2.1 实验设备 | 第20-21页 |
| 2.2.2 表征测试仪器 | 第21-22页 |
| 2.3 陶瓷样品的水热法合成 | 第22-23页 |
| 2.3.1 实验流程 | 第22页 |
| 2.3.2 实验过程 | 第22-23页 |
| 2.4 陶瓷样品的固相法合成 | 第23-24页 |
| 2.4.1 实验流程 | 第23页 |
| 2.4.2 实验过程与烧温曲线 | 第23-24页 |
| 2.5 表征与测试方法 | 第24-30页 |
| 2.5.1 体积密度及线收缩率测试 | 第24-25页 |
| 2.5.2 X-射线衍射(XRD)分析 | 第25-26页 |
| 2.5.3 红外光谱(FT-IR)分析 | 第26页 |
| 2.5.4 拉曼光谱分析(Raman) | 第26页 |
| 2.5.5 荧光光谱分析 | 第26-27页 |
| 2.5.6 扫描电子显微镜分析(SEM) | 第27页 |
| 2.5.7 透射电子显微镜分析(TEM) | 第27页 |
| 2.5.8 微波介电性能测试 | 第27-30页 |
| 第三章 Zn_2GeO_4微波材料的水热合成及其性能研究 | 第30-44页 |
| 3.1 引言 | 第30页 |
| 3.2 实验过程 | 第30-31页 |
| 3.2.1 样品制备 | 第30-31页 |
| 3.2.2 测试过程 | 第31页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第31-42页 |
| 3.3.1 pH值对物相的影响 | 第31-32页 |
| 3.3.2 Zn_2GeO_4的微观结构分析 | 第32-34页 |
| 3.3.3 反应温度对Zn_2GeO_4微观形貌的影响 | 第34-35页 |
| 3.3.4 CTAB对Zn_2GeO_4微观形貌的影响 | 第35-37页 |
| 3.3.5 两步反应对Zn_2GeO_4微观形貌的影响 | 第37-38页 |
| 3.3.6 FT-IR, Raman光谱分析 | 第38-39页 |
| 3.3.7 Zn_2GeO_4纳米棒的微波介电性能 | 第39-41页 |
| 3.3.8 Zn_2GeO_4纳米棒的荧光光谱分析 | 第41-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-44页 |
| 第四章 (1-x)ZnAl_2O_(4-x)Zn_2SnO_4固溶体的合成及其介电性能研究 | 第44-53页 |
| 4.1 引言 | 第44页 |
| 4.2 实验过程 | 第44-45页 |
| 4.2.1 样品制备 | 第44-45页 |
| 4.2.2 测试过程 | 第45页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第45-52页 |
| 4.3.1 物相分析 | 第45-47页 |
| 4.3.2 微观结构分析 | 第47-49页 |
| 4.3.3 微波介电性能分析 | 第49-52页 |
| 4.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-65页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
