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基于高光谱成像技术的苹果可溶性固形物含量与缺陷检测

摘要第5-7页
ABSTRACT第7页
第一章 绪论第10-18页
    1.1 研究背景第10-11页
    1.2 研究的意义第11-12页
    1.3 高光谱成像技术无损检测农产品内部品质研究现状第12-14页
        1.3.1 国外研究现状第12-13页
        1.3.2 国内研究现状第13-14页
    1.4 高光谱成像技术对农产品外部缺陷研究现状第14-16页
        1.4.1 国外研究现状第14-15页
        1.4.2 国内研究现状第15-16页
    1.5 论文内容结构第16-18页
第二章 本试验研究平台第18-26页
    2.1 高光谱成像系统概述第18页
    2.2 高光谱成像系统构成第18-20页
    2.3 高光谱图像的获取方式第20-21页
    2.4 高光谱图像的数据特点第21-23页
    2.5 高光谱图像处理的流程第23-26页
第三章 试验设计及算法工具第26-34页
    3.1 试验设计方案第26页
    3.2 试验材料与工具第26-29页
        3.2.1 苹果第26-27页
        3.2.2 高光谱设备配置第27-28页
        3.2.3 数字阿贝折光仪第28-29页
    3.3 试验算法选取与参数设置第29-34页
        3.3.1 一种新的波段比算法Band Math第29页
        3.3.2 PCA变换第29页
        3.3.3 竞争性自适应重加权波段挑选方法CARS第29-31页
        3.3.4 UVE无信息变量消除法第31页
        3.3.5 GA遗传算法第31-32页
        3.3.6 基于PLS建立可溶性固形物预测模型第32-33页
        3.3.7 图像处理方法第33-34页
第四章 苹果外部常见缺陷检测第34-41页
    4.1 样本处理与高光谱数据采集第34页
    4.2 感兴趣区域的提取第34-36页
    4.3 基于趋势分析的BAND MATH算法第36-39页
    4.4 基于全波段PCA变换挑选特征波段第39-40页
    4.5 本章小结第40-41页
第五章 苹果可溶性固形物含量无损检测第41-53页
    5.1 高光谱数据采集第41页
        5.1.1 试验样本处理第41页
        5.1.2 配置高光谱采集系统参数第41页
    5.2 样本原始光谱第41-42页
    5.3 可溶性固形物(SSC)的真实值测量第42-43页
    5.4 本试验特征波长挑选的意义第43页
    5.5 特征波长挑选后的PLS建模结果第43-51页
        5.5.1 基于全波段的PLS建模预测模型第43-44页
        5.5.2 基于UVE挑选特征波长的PLS建模预测模型第44-45页
        5.5.3 基于GA挑选特征波长的PLS建模预测模型第45-48页
        5.5.4 基于CARS挑选特征波长的PLS建模预测模型第48-51页
    5.6 本章小结第51-53页
第六章 总结与展望第53-55页
    6.1 总结第53-54页
    6.2 展望第54-55页
参考文献第55-59页
致谢第59-60页
作者简介第60页

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