基于锁相环的超低差频信号检测技术研究
| 致谢 | 第5-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 1 绪论 | 第17-29页 |
| 1.1 差频检测的课题背景 | 第17-18页 |
| 1.2 差频检测国内外研究现状 | 第18-26页 |
| 1.2.1 超低差频信号测量的发展现状 | 第18-20页 |
| 1.2.2 倍频技术的发展现状 | 第20-26页 |
| 1.3 差频检测的研究内容及意义 | 第26-29页 |
| 1.3.1 差频检测的研究内容 | 第26页 |
| 1.3.2 差频倍频的研究意义 | 第26-29页 |
| 2 差频检测的总体方案设计 | 第29-37页 |
| 2.1 总体目标及解决方案 | 第29-31页 |
| 2.1.1 总体目标 | 第29页 |
| 2.1.2 总体解决方案 | 第29-30页 |
| 2.1.3 总体误差分配 | 第30-31页 |
| 2.2 精度影响因素分析 | 第31-36页 |
| 2.2.1 鉴相器影响分析 | 第31-33页 |
| 2.2.2 环路滤波器影响分析 | 第33-34页 |
| 2.2.3 VCO影响分析 | 第34-35页 |
| 2.2.4 电源和地影响分析 | 第35-36页 |
| 2.2.5 器件的非线性影响分析 | 第36页 |
| 2.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 3 差频检测的噪声建模及仿真分析 | 第37-59页 |
| 3.1 差频检测的噪声传递模型 | 第37-40页 |
| 3.2 差频检测误差模型 | 第40-42页 |
| 3.3 差频检测仿真分析 | 第42-58页 |
| 3.3.1 锁相环各模块仿真 | 第44-49页 |
| 3.3.2 环路带宽对输出端相噪影响仿真 | 第49-53页 |
| 3.3.3 器件工作状态对输出端影响仿真 | 第53-55页 |
| 3.3.4 VCO输出端限幅控制仿真 | 第55-57页 |
| 3.3.5 综合仿真 | 第57-58页 |
| 3.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 4 差频检测的信号模拟及基准信号产生 | 第59-71页 |
| 4.1 差频检测输入信号模拟 | 第59-65页 |
| 4.1.1 输入信号模拟电路设计 | 第59-61页 |
| 4.1.2 输入信号理论验证及实验分析 | 第61-65页 |
| 4.2 差频检测基准信号产生 | 第65-70页 |
| 4.2.1 高精度参考源 | 第65-66页 |
| 4.2.2 时钟倍频芯片 | 第66-68页 |
| 4.2.3 基准源实验分析 | 第68-70页 |
| 4.3 本章小结 | 第70-71页 |
| 5 差频检测的多级放大方案研究 | 第71-81页 |
| 5.1 差频检测方案研究 | 第71-75页 |
| 5.2 基准频率变换的研究 | 第75-76页 |
| 5.3 差频检测实验分析 | 第76-79页 |
| 5.4 本章小结 | 第79-81页 |
| 6 差频信号检测实验验证 | 第81-93页 |
| 6.1 差频检测噪声测试方案 | 第81-82页 |
| 6.2 差频检测实验验证 | 第82-92页 |
| 6.2.1 锁相环各模块影响实验验证 | 第83-85页 |
| 6.2.2 环路带宽影响实验验证 | 第85-87页 |
| 6.2.3 器件工作状态影响实验验证 | 第87-88页 |
| 6.2.4 VCO输出端限幅实验验证 | 第88-90页 |
| 6.2.5 总体实验验证 | 第90-92页 |
| 6.3 本章小结 | 第92-93页 |
| 7 总结与展望 | 第93-95页 |
| 7.1 总结 | 第93-94页 |
| 7.2 展望 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-99页 |
| 攻读硕士学位期间取得的科研成果 | 第99页 |
