| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| 1.1 引言 | 第9-10页 |
| 1.2 热障涂层应用背景 | 第10-11页 |
| 1.3 热障涂层结构及材料发展历程 | 第11-16页 |
| 1.3.1 热障涂层结构 | 第11-12页 |
| 1.3.2 陶瓷层材料 | 第12-15页 |
| 1.3.3 粘结层材料 | 第15页 |
| 1.3.4 基底材料 | 第15-16页 |
| 1.4 热障涂层失效机制的研究现状 | 第16-18页 |
| 1.4.1 热障涂层高温烧结的研究 | 第16-17页 |
| 1.4.2 热障涂层高温CMAS腐蚀的研究 | 第17-18页 |
| 1.5 选题依据及研究内容 | 第18-20页 |
| 第2章 高温烧结和CMAS腐蚀热障涂层实验方案及表征手段 | 第20-34页 |
| 2.1 APS-7YSZ热障涂层样品制备 | 第20页 |
| 2.2 温度梯度炉简介及工作原理 | 第20-22页 |
| 2.2.1 温度梯度炉简介 | 第20-21页 |
| 2.2.2 温度梯度炉工作原理 | 第21-22页 |
| 2.3 CMAS粉末制备 | 第22-23页 |
| 2.4 CMAS粉末热物理性能测试 | 第23-26页 |
| 2.5 实验方案设计 | 第26-27页 |
| 2.5.1 高温烧结实验方案 | 第26页 |
| 2.5.2 CMAS腐蚀实验方案 | 第26-27页 |
| 2.6 主要表征手段 | 第27-33页 |
| 2.6.1 X射线衍射法及XRD试样的制备 | 第27页 |
| 2.6.2 扫描电镜构造、工作原理及样品制备 | 第27-30页 |
| 2.6.3 透射电子显微镜及透射样品制备 | 第30-33页 |
| 2.7 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 高温烧结和CMAS腐蚀APS热障涂层微观结构的XRD和SEM分析 | 第34-40页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 实验结果与分析 | 第35-39页 |
| 3.2.1 原始样品、高温烧结样品和CMAS腐蚀样品的XRD分析 | 第35-36页 |
| 3.2.2 原始样品、高温烧结样品和CMAS腐蚀样品的背散射电子成像分析 | 第36-38页 |
| 3.2.3 原始样品、高温烧结样品和 CMAS 腐蚀样品的二次电子成像分析 | 第38-39页 |
| 3.3 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 高温烧结和CMAS腐蚀APS热障涂层微结构TEM的分析与讨论 | 第40-49页 |
| 4.1 引言 | 第40页 |
| 4.2 实验结果与分析 | 第40-46页 |
| 4.2.1 原始样品的TEM分析 | 第41页 |
| 4.2.2 高温烧结样品的TEM分析 | 第41-42页 |
| 4.2.3 CMAS腐蚀样品的TEM分析 | 第42-46页 |
| 4.3 讨论 | 第46-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 总结与展望 | 第49-51页 |
| 5.1 工作总结 | 第49-50页 |
| 5.2 工作展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 攻读硕士学位期间发表的专利及学术论文 | 第58页 |
