智能手机接近传感器的可靠性研究
中文摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
字母注释表 | 第11-12页 |
第一章 绪论 | 第12-20页 |
1.1 可靠性技术的发展 | 第12-17页 |
1.2 可靠性技术的研究现状 | 第17-18页 |
1.3 课题来源及主要研究内容 | 第18-19页 |
1.4 论文的主体结构 | 第19-20页 |
第二章 可靠性技术在手机上的应用 | 第20-31页 |
2.1 手机的可靠性技术 | 第20-28页 |
2.1.1 手机的可靠性分析 | 第22-25页 |
2.1.2 手机的可靠性试验 | 第25-28页 |
2.1.3 手机的可靠性增长 | 第28页 |
2.2 传感器在手机上的应用 | 第28-30页 |
2.2.1 光电传感器 | 第28-29页 |
2.2.2 接近传感器 | 第29页 |
2.2.3 周围光线照度传感器 | 第29-30页 |
2.2.4 手势传感器 | 第30页 |
2.3 本章小结 | 第30-31页 |
第三章 手机接近传感器的可靠性分析 | 第31-36页 |
3.1 手机可靠性分析的流程 | 第31页 |
3.2 手机接近传感器出现的问题 | 第31-32页 |
3.3 接近传感器在手机上的应用 | 第32-33页 |
3.4 基于故障树的可靠性分析 | 第33-35页 |
3.5 本章小结 | 第35-36页 |
第四章 手机接近传感器的可靠性试验 | 第36-46页 |
4.1 手机可靠性试验基本流程 | 第36页 |
4.2 测试系统的建立 | 第36-39页 |
4.3 测试流程 | 第39-42页 |
4.4 失效原因的分析 | 第42-45页 |
4.4.1 透镜 | 第43-45页 |
4.4.2 滑盖前壳 | 第45页 |
4.4.3 感应器件 | 第45页 |
4.5 本章小结 | 第45-46页 |
第五章 手机接近传感器的可靠性增长 | 第46-65页 |
5.1 可靠性增长的一般流程 | 第46页 |
5.2 手机结构分析 | 第46-47页 |
5.3 可靠性增长的实现 | 第47-64页 |
5.4 本章小结 | 第64-65页 |
第六章 结论和展望 | 第65-66页 |
6.1 结论 | 第65页 |
6.2 展望 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-68页 |
致谢 | 第68-69页 |