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扫描干涉场曝光系统光束质量控制方法研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 绪论第13-29页
    1.1 课题研究背景及意义第13-17页
        1.1.1 课题背景第13-14页
        1.1.2 大面积衍射光栅需求第14-17页
    1.2 相关领域研究现状第17-26页
        1.2.1 大面积衍射光栅制作技术及现状第17-24页
        1.2.2 激光光束稳定性研究现状第24-25页
        1.2.3 激光光束质量评价研究现状第25-26页
    1.3 主要研究内容和结构安排第26-29页
        1.3.1 论文主要内容第26-27页
        1.3.2 论文结构安排第27-29页
第2章 扫描干涉场曝光系统原理、组成与工作方式第29-45页
    2.1 引言第29-30页
    2.2 扫描干涉场曝光系统原理第30-35页
        2.2.1 扫描干涉场曝光基本原理第30-32页
        2.2.2 步进间隔与扫描速度第32-35页
    2.3 扫描干涉场曝光系统组成第35-39页
        2.3.1 扫描干涉场曝光系统结构第35-37页
        2.3.2 电子学系统第37-39页
    2.4 系统工作模式与扫描曝光流程第39-44页
        2.4.1 系统工作模式第39-41页
        2.4.2 扫描干涉场曝光系统工作流程第41-44页
    2.5 本章小结第44-45页
第3章 扫描干涉场曝光光路设计第45-69页
    3.1 引言第45页
    3.2 扫描干涉场曝光数学模型第45-49页
    3.3 干涉场尺寸设计第49-58页
        3.3.1 光斑尺寸对干涉条纹非线性误差影响第49-54页
        3.3.2 光斑尺寸对刻线误差的影响第54-56页
        3.3.3 光斑尺寸对曝光对比度的影响第56-58页
    3.4 系统光学透镜布局第58-61页
        3.4.1 理论计算第58-59页
        3.4.2 优化设计第59-60页
        3.4.3 系统光学元件布局第60-61页
    3.5 干涉场参数测量第61-66页
        3.5.1 光斑形貌测量第61-62页
        3.5.2 干涉条纹相位的非线性误差测量第62-66页
    3.6 本章小结第66-69页
第4章 光学元件表面缺陷对高斯光束及干涉场质量影响第69-89页
    4.1 引言第69-70页
    4.2 缺陷调制模型建立及分析第70-77页
        4.2.1 高斯光束缺陷调制模型第70-72页
        4.2.2 高斯光束缺陷调制物理意义第72-73页
        4.2.3 光强调制项分析第73-76页
        4.2.4 调制后高斯光束模拟分析第76-77页
    4.3 缺陷调制模型扩展第77-81页
        4.3.1 轴外缺陷模拟第78-79页
        4.3.2 多缺陷调制模拟第79-81页
    4.4 光学元件表面缺陷对干涉场曝光系统的影响第81-88页
        4.4.1 干涉场缺陷调制分析第81-83页
        4.4.2 曝光对比度对光栅掩模槽形影响第83-86页
        4.4.3 全息光栅曝光系统中缺陷评价因子选择第86-88页
    4.5 结论第88-89页
第5章 扫描干涉场曝光光束漂移误差及其控制技术第89-107页
    5.1 引言第89页
    5.2 光束漂移误差分析第89-99页
        5.2.1 光束角度漂移对扫描曝光的影响第89-96页
        5.2.2 低频线性漂移对曝光对比度的影响第96-99页
    5.3 光束稳定系统设计第99-102页
        5.3.1 光束稳定系统简介第99-101页
        5.3.2 系统机械振动分析第101-102页
    5.4 实验结果与分析第102-105页
    5.5 结论第105-107页
第6章 扫描干涉场曝光光束对准误差及其控制技术第107-131页
    6.1 引言第107-108页
    6.2 扫描干涉场曝光对准误差模型与分析第108-112页
        6.2.1 扫描干涉场曝光对准误差模型第108-110页
        6.2.2 扫描干涉场对准误差对于曝光对比度的影响第110-112页
    6.3 光束自动对准系统设计第112-116页
        6.3.1 光束自动对准系统简介第112-113页
        6.3.2 对准系统测量原理与设计第113-115页
        6.3.3 光束自动对准系统设计及调整原理第115-116页
    6.4 光束自动对准算法收敛性分析第116-125页
        6.4.1 光束迭代对准算法模型第116-120页
        6.4.2 装调误差对于系统的影响分析与模拟第120-125页
    6.5 对准系统实验与分析第125-127页
    6.6 扫描曝光光栅的制作第127-128页
    6.7 结论第128-131页
第7章 总结与展望第131-133页
    7.1 论文工作总结第131-132页
    7.2 展望第132-133页
参考文献第133-141页
在学期间学术成果情况第141-143页
指导教师及作者简介第143-145页
致谢第145-146页

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