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基于非理想虚像相位阵列的二维光谱检测的研究

致谢第5-6页
摘要第6-7页
ABSTRACT第7-8页
1 引言第11-21页
    1.1 研究背景及意义第11-12页
    1.2 光谱检测技术第12-15页
        1.2.1 基于色散分光光谱检测技术第12-13页
        1.2.2 基于相干探测光谱检测技术第13-15页
    1.3 基于VIPA的光谱技术的应用第15-20页
        1.3.1 基于VIPA的布里渊光谱技术第15-17页
        1.3.2 基于VIPA的光频梳光谱技术第17-20页
    1.4 本文结构及主要内容第20-21页
2 虚像相位阵列的理论基础第21-34页
    2.1 多光束干涉第21-23页
        2.1.1 多光束干涉的原理第21-23页
        2.1.2 多光束干涉的特性第23页
    2.2 虚像相位阵列的原理第23-27页
        2.2.1 虚像相位阵列的色散原理第23-24页
        2.2.2 衍射光栅的色散原理第24-25页
        2.2.3 虚像相位阵列的二维成像原理第25-27页
    2.3 虚像相位阵列的色散定律第27-33页
        2.3.1 平面波色散定律第27-28页
        2.3.2 近轴色散定律第28-29页
        2.3.3 基于平面波角度谱的色散定律第29-31页
        2.3.4 不同色散定律的对比及分析第31-33页
    2.4 本章小结第33-34页
3 基于非理想虚像相位阵列的仿真研究第34-54页
    3.1 ZEMAX的仿真模型的建立第34-43页
        3.1.1 ZEMAX软件介绍第34页
        3.1.2 ZEMAX镀膜和散射第34-38页
        3.1.3 衍射光栅的ZEMAX仿真第38-40页
        3.1.4 VIPA的ZEMAX仿真第40页
        3.1.5 虚像相位阵列的二维成像系统的ZEMAX仿真第40-41页
        3.1.6 理想VIPA的ZEMAX仿真分析第41-43页
    3.2 非理想虚像相位阵列的仿真分析第43-51页
        3.2.1 平行度对VIPA特性的影响第45-49页
        3.2.2 光洁度对VIPA特性的影响第49-51页
    3.3 实验分析第51-52页
    3.4 本章小结第52-54页
4 低反射有限虚像阵列第54-71页
    4.1 低反射有限虚像阵列的原理第54-55页
    4.2 低反射有限虚像阵列的色散定律第55-58页
    4.3 低反射有限虚像阵列的ZEMAX仿真分析第58-68页
        4.3.1 低反射有限虚像阵列ZEMAX仿真模型的建立第58-60页
        4.3.2 平行度对低反射有限虚像阵列的影响第60-64页
        4.3.3 光洁度对低反射有限虚像阵列的影响第64-68页
    4.4 基于低反射有限虚像阵列的锯齿形滤波器第68-70页
    4.5 本章小结第70-71页
5 结论第71-73页
    5.1 全文工作总结第71-72页
    5.2 未来工作展望第72-73页
参考文献第73-76页
作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果第76-78页
学位论文数据集第78页

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