致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
1 引言 | 第11-21页 |
1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
1.2 光谱检测技术 | 第12-15页 |
1.2.1 基于色散分光光谱检测技术 | 第12-13页 |
1.2.2 基于相干探测光谱检测技术 | 第13-15页 |
1.3 基于VIPA的光谱技术的应用 | 第15-20页 |
1.3.1 基于VIPA的布里渊光谱技术 | 第15-17页 |
1.3.2 基于VIPA的光频梳光谱技术 | 第17-20页 |
1.4 本文结构及主要内容 | 第20-21页 |
2 虚像相位阵列的理论基础 | 第21-34页 |
2.1 多光束干涉 | 第21-23页 |
2.1.1 多光束干涉的原理 | 第21-23页 |
2.1.2 多光束干涉的特性 | 第23页 |
2.2 虚像相位阵列的原理 | 第23-27页 |
2.2.1 虚像相位阵列的色散原理 | 第23-24页 |
2.2.2 衍射光栅的色散原理 | 第24-25页 |
2.2.3 虚像相位阵列的二维成像原理 | 第25-27页 |
2.3 虚像相位阵列的色散定律 | 第27-33页 |
2.3.1 平面波色散定律 | 第27-28页 |
2.3.2 近轴色散定律 | 第28-29页 |
2.3.3 基于平面波角度谱的色散定律 | 第29-31页 |
2.3.4 不同色散定律的对比及分析 | 第31-33页 |
2.4 本章小结 | 第33-34页 |
3 基于非理想虚像相位阵列的仿真研究 | 第34-54页 |
3.1 ZEMAX的仿真模型的建立 | 第34-43页 |
3.1.1 ZEMAX软件介绍 | 第34页 |
3.1.2 ZEMAX镀膜和散射 | 第34-38页 |
3.1.3 衍射光栅的ZEMAX仿真 | 第38-40页 |
3.1.4 VIPA的ZEMAX仿真 | 第40页 |
3.1.5 虚像相位阵列的二维成像系统的ZEMAX仿真 | 第40-41页 |
3.1.6 理想VIPA的ZEMAX仿真分析 | 第41-43页 |
3.2 非理想虚像相位阵列的仿真分析 | 第43-51页 |
3.2.1 平行度对VIPA特性的影响 | 第45-49页 |
3.2.2 光洁度对VIPA特性的影响 | 第49-51页 |
3.3 实验分析 | 第51-52页 |
3.4 本章小结 | 第52-54页 |
4 低反射有限虚像阵列 | 第54-71页 |
4.1 低反射有限虚像阵列的原理 | 第54-55页 |
4.2 低反射有限虚像阵列的色散定律 | 第55-58页 |
4.3 低反射有限虚像阵列的ZEMAX仿真分析 | 第58-68页 |
4.3.1 低反射有限虚像阵列ZEMAX仿真模型的建立 | 第58-60页 |
4.3.2 平行度对低反射有限虚像阵列的影响 | 第60-64页 |
4.3.3 光洁度对低反射有限虚像阵列的影响 | 第64-68页 |
4.4 基于低反射有限虚像阵列的锯齿形滤波器 | 第68-70页 |
4.5 本章小结 | 第70-71页 |
5 结论 | 第71-73页 |
5.1 全文工作总结 | 第71-72页 |
5.2 未来工作展望 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-76页 |
作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第76-78页 |
学位论文数据集 | 第78页 |