硅橡胶等离子体及电晕老化性能研究
摘要 | 第1-10页 |
Abstract | 第10-13页 |
1 绪论 | 第13-20页 |
·研究背景和意义 | 第13-14页 |
·国内外研究现状 | 第14-18页 |
·硅橡胶老化试验方法 | 第14-17页 |
·硅橡胶老化表征方法 | 第17-18页 |
·本文主要工作 | 第18-20页 |
2 硅橡胶试样制备及性能测试 | 第20-42页 |
·硅橡胶材料及试样制备 | 第20-23页 |
·硅橡胶材料组分 | 第20-21页 |
·硅橡胶试样制备 | 第21-23页 |
·硅橡胶试样硫化曲线 | 第23-27页 |
·不同ATH含量硅橡胶硫化曲线 | 第24-25页 |
·不同白炭黑含量硅橡胶硫化曲线 | 第25-27页 |
·硅橡胶试样宏观性能 | 第27-32页 |
·不同ATH含量硅橡胶宏观性能 | 第27-28页 |
·不同白炭黑含量硅橡胶宏观性能 | 第28-30页 |
·生产厂家试样宏观性能对比 | 第30-32页 |
·硅橡胶试样正电子湮没寿命谱 | 第32-40页 |
·正电子谱学基础 | 第32-36页 |
·不同ATH含量硅橡胶正电子湮没寿命谱 | 第36-37页 |
·不同白炭黑含量硅橡胶正电子湮没寿命谱 | 第37-40页 |
·本章小结 | 第40-42页 |
3 硅橡胶等离子体老化性能 | 第42-68页 |
·等离子体试验装置及工作原理 | 第42-44页 |
·试验工况选择 | 第44-46页 |
·处理位置均匀性 | 第44-45页 |
·等离子体功率影响 | 第45-46页 |
·等离子体老化后硅橡胶憎水恢复性能 | 第46-51页 |
·等离子体老化后硅橡胶微观形貌 | 第51-55页 |
·等离子体老化后硅橡胶傅里叶红外光谱 | 第55-61页 |
·等离子体老化后硅橡胶X射线能谱 | 第61-64页 |
·慢正电子束研究结构变化 | 第64-67页 |
·本章小结 | 第67-68页 |
4 硅橡胶电晕老化性能 | 第68-95页 |
·电晕老化试验装置 | 第68-69页 |
·憎水恢复性能 | 第69-78页 |
·电晕老化后硅橡胶微观形貌 | 第78-79页 |
·电晕老化后硅橡胶傅里叶红外光谱 | 第79-85页 |
·电晕老化后硅橡胶X射线能谱 | 第85-87页 |
·电晕老化后硅橡胶显微红外光谱 | 第87-93页 |
·本章小结 | 第93-95页 |
5 硅橡胶老化结构及憎水恢复模型 | 第95-109页 |
·硅橡胶老化机理及结构模型 | 第95-100页 |
·硅橡胶老化憎水恢复模型 | 第100-108页 |
·杨氏方程及扩展 | 第100-102页 |
·Fick扩散定律 | 第102-104页 |
·硅橡胶老化结构的憎水恢复模型 | 第104-108页 |
·本章小结 | 第108-109页 |
6 结论 | 第109-111页 |
参考文献 | 第111-120页 |
攻读博士学位期间发表的科研成果目录 | 第120-122页 |
致谢 | 第122页 |