MHz猝发率高压脉冲作用下介质真空沿面闪络特性研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 概述 | 第8-12页 |
| ·研究背景和意义 | 第8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-10页 |
| ·理论研究现状 | 第9页 |
| ·实验研究现状 | 第9-10页 |
| ·论文的主要工作及创新点 | 第10-11页 |
| ·论文的主要工作 | 第10-11页 |
| ·论文的创新点 | 第11页 |
| ·本章小结 | 第11-12页 |
| 第二章 真空沿面闪络原理 | 第12-21页 |
| ·沿面闪络理论模型 | 第12-14页 |
| ·沿面闪络影响因素 | 第14-18页 |
| ·真空度的影响 | 第14-15页 |
| ·材料性能的影响 | 第15-16页 |
| ·绝缘子几何形状与表面状态的影响 | 第16-18页 |
| ·电压波形的影响 | 第18页 |
| ·表面电荷积聚机理及其对闪络的影响 | 第18-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 实验装置及实验设计 | 第21-29页 |
| ·三脉冲功率源 | 第21-23页 |
| ·耐压测试系统 | 第23-24页 |
| ·光学诊断系统 | 第24-26页 |
| ·实验设计 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 闪络放电的光测实验研究 | 第29-41页 |
| ·HGI样品闪络发光情况 | 第30-32页 |
| ·普通绝缘子闪络发光情况 | 第32-33页 |
| ·样品与电极表面放电痕迹 | 第33-36页 |
| ·流注理论对闪络放电过程的解释 | 第36-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章 MHz猝发率下的闪络特性实验研究 | 第41-52页 |
| ·不同样品脉冲间隔调整时的闪络电压差异 | 第41-44页 |
| ·同一样品脉冲间隔调整时的闪络电压差异 | 第44-48页 |
| ·加速腔绝缘环的多脉冲耐压特性研究 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第六章 总结与展望 | 第52-54页 |
| ·总结 | 第52-53页 |
| ·展望 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 附录 | 第59页 |
