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雷达射频电路单元自动测试系统设计与实现

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-11页
第一章 引言第11-21页
   ·自动测试基本概念和国内外发展趋势第11-14页
     ·自动测试系统的概念第11-12页
     ·自动测试系统发展概况第12-14页
     ·ATE 发展方向第14页
   ·ATE 研制的关键技术第14-19页
     ·现代测控总线技术第14-16页
     ·虚拟仪器技术第16-18页
     ·自动测试系统集成技术第18-19页
   ·课题背景第19页
   ·课题完成的工作第19-21页
第二章 自动测试系统硬件设计第21-33页
   ·测试需求分析第21-23页
     ·被测对象分析第21页
     ·统计和分析结果第21-23页
   ·系统的硬件组成及主要工作原理第23-30页
     ·小功率传输类组件的测试原理第25-26页
     ·功率放大组件的测试原理第26页
     ·频率源类组件的测试原理第26-27页
     ·变频类组件的测试原理第27-28页
     ·多端口组件的测试原理第28-29页
     ·系统校准原理第29-30页
   ·系统结构设计第30-31页
     ·机柜组合通用结构设计第30-31页
     ·系统仪器柜布置第31页
   ·信号转接中枢设计第31-33页
第三章 自动测试平台构建方式和软件设计第33-62页
   ·自动测试平台的概述第33-34页
   ·自动测试平台的软件结构关系第34-35页
   ·自动测试平台的可扩展软件设计原理第35-37页
     ·平台+插件软件开发的框架模式第36-37页
     ·平台+插件软件设计步骤[6]第37页
     ·平台+插件软件设计优点第37页
   ·自动测试平台的软件实现第37-44页
     ·软件平台的功能结构第38-42页
     ·构思和主要功能设计第42-44页
   ·主要功能类结构介绍第44-58页
     ·class CDevelopApp : public CWinApp第44-46页
     ·class CDevelopDlg : public CDialog第46-50页
     ·class CSCOPE : public CDialog第50页
     ·class Queue第50-51页
     ·class BindFunction : public CDialog第51-58页
     ·class CDllLoad第58页
   ·计算机与仪器的通信第58-59页
     ·VISA 的概述第58-59页
     ·VISA 基本函数介绍第59页
   ·仪器驱动的封装原理第59-62页
第四章 系统的性能及实际应用第62-73页
   ·系统的主要功能第62-63页
   ·系统的主要技术指标第63-66页
     ·信号产生能力第63-64页
     ·测试能力第64-65页
     ·系统控制能力第65-66页
     ·电源供电能力第66页
   ·主要特点第66-67页
   ·实例分析第67-72页
   ·实验结果第72-73页
第五章 结束语第73-74页
致谢第74-75页
参考文献第75-76页
攻硕期间取得的研究成果第76-77页

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