摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第一章 引言 | 第11-21页 |
·自动测试基本概念和国内外发展趋势 | 第11-14页 |
·自动测试系统的概念 | 第11-12页 |
·自动测试系统发展概况 | 第12-14页 |
·ATE 发展方向 | 第14页 |
·ATE 研制的关键技术 | 第14-19页 |
·现代测控总线技术 | 第14-16页 |
·虚拟仪器技术 | 第16-18页 |
·自动测试系统集成技术 | 第18-19页 |
·课题背景 | 第19页 |
·课题完成的工作 | 第19-21页 |
第二章 自动测试系统硬件设计 | 第21-33页 |
·测试需求分析 | 第21-23页 |
·被测对象分析 | 第21页 |
·统计和分析结果 | 第21-23页 |
·系统的硬件组成及主要工作原理 | 第23-30页 |
·小功率传输类组件的测试原理 | 第25-26页 |
·功率放大组件的测试原理 | 第26页 |
·频率源类组件的测试原理 | 第26-27页 |
·变频类组件的测试原理 | 第27-28页 |
·多端口组件的测试原理 | 第28-29页 |
·系统校准原理 | 第29-30页 |
·系统结构设计 | 第30-31页 |
·机柜组合通用结构设计 | 第30-31页 |
·系统仪器柜布置 | 第31页 |
·信号转接中枢设计 | 第31-33页 |
第三章 自动测试平台构建方式和软件设计 | 第33-62页 |
·自动测试平台的概述 | 第33-34页 |
·自动测试平台的软件结构关系 | 第34-35页 |
·自动测试平台的可扩展软件设计原理 | 第35-37页 |
·平台+插件软件开发的框架模式 | 第36-37页 |
·平台+插件软件设计步骤[6] | 第37页 |
·平台+插件软件设计优点 | 第37页 |
·自动测试平台的软件实现 | 第37-44页 |
·软件平台的功能结构 | 第38-42页 |
·构思和主要功能设计 | 第42-44页 |
·主要功能类结构介绍 | 第44-58页 |
·class CDevelopApp : public CWinApp | 第44-46页 |
·class CDevelopDlg : public CDialog | 第46-50页 |
·class CSCOPE : public CDialog | 第50页 |
·class Queue | 第50-51页 |
·class BindFunction : public CDialog | 第51-58页 |
·class CDllLoad | 第58页 |
·计算机与仪器的通信 | 第58-59页 |
·VISA 的概述 | 第58-59页 |
·VISA 基本函数介绍 | 第59页 |
·仪器驱动的封装原理 | 第59-62页 |
第四章 系统的性能及实际应用 | 第62-73页 |
·系统的主要功能 | 第62-63页 |
·系统的主要技术指标 | 第63-66页 |
·信号产生能力 | 第63-64页 |
·测试能力 | 第64-65页 |
·系统控制能力 | 第65-66页 |
·电源供电能力 | 第66页 |
·主要特点 | 第66-67页 |
·实例分析 | 第67-72页 |
·实验结果 | 第72-73页 |
第五章 结束语 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-76页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第76-77页 |