| 图目录 | 第1-14页 |
| 表目录 | 第14-16页 |
| 摘要 | 第16-18页 |
| Abstract | 第18-20页 |
| 符号和縮略词 | 第20-21页 |
| 1 引言 | 第21-35页 |
| ·粒子物理学 | 第21-23页 |
| ·粲偶素物理 | 第23-25页 |
| ·粒子物理实验 | 第25-27页 |
| ·选题背景及论文内容 | 第27-35页 |
| ·η_c'→X | 第27-30页 |
| ·e~+e~-→π~+π~-π~0 | 第30-35页 |
| 2 北京正负电子对撞机Ⅱ和北京谱仪Ⅲ | 第35-49页 |
| ·北京正负电子对撞机(BEPCⅡ) | 第35-37页 |
| ·北京谱仪(BESⅢ) | 第37-43页 |
| ·束流管 | 第38-39页 |
| ·主漂移室(MDC) | 第39-40页 |
| ·飞行时间计数器(TOF) | 第40页 |
| ·电磁量能器(EMC) | 第40-41页 |
| ·超导磁体 | 第41页 |
| ·μ子鉴别器(MUC) | 第41页 |
| ·触发判选系统 | 第41-42页 |
| ·在线数据获取系统 | 第42-43页 |
| ·BESⅢ离线软件系统 | 第43-49页 |
| ·离线数据处理计算环境 | 第43-44页 |
| ·BESⅢ离线软件系统框架(BOSS) | 第44-46页 |
| ·BESⅢ探测器模拟软件(BOOST) | 第46-47页 |
| ·BESⅢ离线重建软件 | 第47页 |
| ·BESⅢ离线刻度系统 | 第47-48页 |
| ·BESⅢ物理分析软件及其它 | 第48-49页 |
| 3 粒子鉴别 | 第49-57页 |
| ·带电粒子 | 第49-52页 |
| ·dE/dx | 第49-50页 |
| ·TOF | 第50-51页 |
| ·粒子鉴别算法 | 第51-52页 |
| ·中性粒子 | 第52-57页 |
| 4 寻找η'_c | 第57-95页 |
| ·简介 | 第57-58页 |
| ·数据和MC模拟 | 第58页 |
| ·数据 | 第58页 |
| ·MC模拟 | 第58页 |
| ·η'_c→四条带电径迹 | 第58-75页 |
| ·选择条件 | 第58-61页 |
| ·本底估计 | 第61-75页 |
| ·信号形状 | 第75页 |
| ·质量谱拟合 | 第75页 |
| ·η'_c→两条带电径迹 | 第75-79页 |
| ·η_c'→ηπ~+π~- | 第75-77页 |
| ·η_c'→pp | 第77-79页 |
| ·η_c'→VV | 第79-87页 |
| ·选择条件 | 第79-81页 |
| ·数据拟合 | 第81-87页 |
| ·系统误差分析 | 第87-92页 |
| ·结果与讨论 | 第92-95页 |
| ·η'_c→四条带电径迹 | 第92-93页 |
| ·η_c'→VV | 第93-95页 |
| 5 e~+e~-→π~+π~-π~0过程截面的测量 | 第95-117页 |
| ·简介 | 第95-96页 |
| ·数据样本 | 第96-97页 |
| ·选择条件 | 第97-100页 |
| ·MC模拟和选择效率 | 第100-102页 |
| ·质量谱拟合与一致性检查 | 第102-109页 |
| ·系统误差分析 | 第109-110页 |
| ·寻迹效率 | 第109页 |
| ·动学拟合 | 第109-110页 |
| ·π~0质量窗口 | 第110页 |
| ·去除来自π~0的ISR光子 | 第110页 |
| ·不标记ISR光子的方向 | 第110页 |
| ·积分亮度 | 第110页 |
| ·系统误差总结 | 第110页 |
| ·结果与讨论 | 第110-117页 |
| 6 总结和展望 | 第117-119页 |
| ·寻找η'_c | 第117-118页 |
| ·e~+e~-→π~+π~-π~0过程截面的测量 | 第118-119页 |
| 参考文献 | 第119-125页 |
| 致谢 | 第125-127页 |
| 博士期间发表论文 | 第127-128页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第128页 |