基于DSP试验机测控系统的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| ·试验仪器控制器的发展现状 | 第8-12页 |
| ·STC控制器结构简介 | 第12-15页 |
| ·论文的主要工作及结构 | 第15-17页 |
| 第二章 硬件原理 | 第17-37页 |
| ·控制原理 | 第17-20页 |
| ·STC控制器技术 | 第20-37页 |
| ·测量采集 | 第20-22页 |
| ·图解测量采集电路原理 | 第22-26页 |
| ·控制驱动输出 | 第26-32页 |
| ·图解控制驱动原理 | 第32-34页 |
| ·安全逻辑保护 | 第34-35页 |
| ·图解安全逻辑保护原理 | 第35-37页 |
| 第三章 STC控制器的软件框架设计 | 第37-46页 |
| ·STC控制器软件设计 | 第37-46页 |
| ·DPX应用 | 第37-38页 |
| ·系统参数数据结构 | 第38-39页 |
| ·采样通道数据结构 | 第39-41页 |
| ·光电编码器设置 | 第41-42页 |
| ·控制通道(伺服阀)数据结构 | 第42页 |
| ·PIDF运算参数数据结构 | 第42-45页 |
| ·函数发生器数据结构 | 第45-46页 |
| 第四章 软件设计的关键技术 | 第46-71页 |
| ·数据采集的处理 | 第46-48页 |
| ·数据采集的同步化 | 第47页 |
| ·对不同信号传递时间的修正 | 第47页 |
| ·分辨率 | 第47页 |
| ·数采频率 | 第47页 |
| ·滤波 | 第47-48页 |
| ·数据采集的软件设计 | 第48-55页 |
| ·闭环控制实测分析 | 第55-59页 |
| ·闭环控制程序代码 | 第59-71页 |
| 第五章 开发流程 | 第71-72页 |
| 第六章 结论 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75页 |