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HBT模型参数提取方法及InP基单片集成器件的研究

摘要第1-6页
Abstract第6-9页
目录第9-12页
第一章 绪论第12-21页
   ·HBT发展概况第12-13页
   ·HBT建模方法简介第13-14页
   ·单片OEIC光接收机的发展现状第14-16页
   ·InP基PIN+HBT单片集成光接收前端的研究意义第16-17页
   ·论文结构安排第17-19页
 参考文献第19-21页
第二章 HBT器件概述第21-31页
   ·HBT与BJT的比较第21-22页
   ·HBT与FET的比较第22-23页
   ·HBT的电流构成第23-25页
   ·HBT器件的常用材料体系第25-27页
   ·HBT器件的主要电学参数第27-28页
   ·HBT的优越性总结第28-29页
 参考文献第29-31页
第三章 HBT器件的电学参数分析第31-52页
   ·半导体材料物理基础第31-32页
   ·InGaAs与InP材料的迁移率随掺杂浓度的变化关系第32-34页
   ·HBT相关电学参数的理论计算第34-44页
   ·HBT的频率性能分析第44-49页
     ·结构参量对HBT频率性能的影响第44-46页
     ·偏置电压对HBT频率性能的影响第46-47页
     ·掺杂浓度对HBT频率性能的影响第47-49页
   ·HBT的优化设计第49-51页
 参考文献第51-52页
第四章 HBT器件的制备与测试第52-67页
   ·InP基HBT的制备第52-57页
     ·版图设计第52-54页
     ·外延结构第54-55页
     ·采用堆叠型外延片制备的HBT第55-57页
     ·共享型外延片结构第57页
   ·InP基HBT的实验制备工艺流程第57-62页
   ·制备工艺研究及难点第62-64页
     ·欧姆接触第62页
     ·金属电极的剥离第62-63页
     ·选择性腐蚀液的研究第63页
     ·聚酰亚胺平坦化工艺第63-64页
   ·分立HBT的测试第64-67页
     ·直流特性测试第64-65页
     ·高频特性测试第65-67页
第五章 HBT小信号模型的研究与参数提取第67-89页
   ·小信号模型简述第67-68页
   ·模型参数的提取第68-88页
     ·寄生电阻、电感的提取第70-73页
     ·寄生电容的提取第73-76页
     ·寄生效应的去除第76-77页
     ·本征参数的提取第77-85页
     ·模型参数的优化与结果第85-88页
 参考文献第88-89页
第六章 HBT大信号模型的研究与参数提取第89-121页
   ·大信号模型简述第89-91页
   ·GP大信号模型的参数与特性方程第91-93页
   ·模型参数的提取第93-118页
     ·C-V参数的提取第94-96页
     ·电阻的提取第96-100页
     ·Early电压的提取第100-103页
     ·正向输出参数的提取第103-108页
     ·反向输出参数的提取第108-109页
     ·交流S参数的解寄生技术第109-112页
     ·输入阻抗参数的提取第112-115页
     ·传输时延参数的提取第115-118页
   ·提取结果第118-120页
 参考文献第120-121页
第七章 单片集成光接收前端电路的分析与设计第121-133页
   ·单片集成光接收前端的设计要求第121-122页
   ·晶体管放大电路的三种组态第122-123页
   ·放大电路的负反馈形式第123-124页
   ·单片集成光接收前端电路的设计第124-132页
     ·单级共射放大电路第125-126页
     ·单级共射加输出缓冲放大电路第126-127页
     ·跨阻负反馈单级共射放大电路第127-129页
     ·共基共射负反馈二级放大电路第129-130页
     ·共基共射负反馈双输出缓冲放大电路第130-132页
 参考文献第132-133页
第八章 单片集成光接收前端的制备与测试第133-138页
   ·PIN+HBT单片集成光接收前端的外延结构第133页
   ·PIN+HBT单片集成光接收前端的版图第133-134页
   ·PIN+HBT单片集成光接收前端的制备与测试第134-136页
   ·单片集成光接收前端的制备步骤第136-138页
附录1 常用半导体材料参数第138-139页
附录2 散射参数与其它参数之间的转化第139-141页
致谢第141-143页
攻读博士学位期间发表的学术论文第143页

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