| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-16页 |
| ·辐射环境中SRAM-based FPGA | 第7页 |
| ·单粒子效应和SRAM-based FPGA | 第7-12页 |
| ·单粒子效应原理 | 第7-10页 |
| ·SRAM-based FPGA的SEU机理及影响 | 第10-12页 |
| ·SRAM-based FPGA的单粒子翻转加固 | 第12-13页 |
| ·SRAM-based FPGA的单粒子测试 | 第13-14页 |
| ·研究意义和内容安排 | 第14-16页 |
| 第2章 单粒子翻转及其测试原理与方法 | 第16-26页 |
| ·地面模拟试验 | 第16-21页 |
| ·测试对象与内容 | 第16页 |
| ·模拟测试原理 | 第16-20页 |
| ·测试方法 | 第20-21页 |
| ·误差注入仿真试验 | 第21-25页 |
| ·测试对象与内容 | 第21页 |
| ·误差注入原理 | 第21-24页 |
| ·测试方法 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 测试系统总体设计 | 第26-45页 |
| ·系统基本功能分析 | 第26-28页 |
| ·预防SEL | 第26-27页 |
| ·SEU加固与测试 | 第27页 |
| ·误差注入仿真测试 | 第27-28页 |
| ·总体结构设计 | 第28-30页 |
| ·测试流程设计 | 第30-32页 |
| ·测试准备 | 第30-31页 |
| ·测试流程 | 第31-32页 |
| ·误差注入设计 | 第32-33页 |
| ·通讯协议设计 | 第33-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 上位机设计与实现 | 第45-49页 |
| ·PC控制软件 | 第45-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 下位机设计与实现 | 第49-85页 |
| ·PCB板设计与实现 | 第49-58页 |
| ·PCB总体硬件结构 | 第49页 |
| ·电源模块 | 第49-50页 |
| ·C8051及串口通讯模块 | 第50-51页 |
| ·存储器模块 | 第51-52页 |
| ·测试控制FPGA模块 | 第52-56页 |
| ·功能测试FPGA模块 | 第56-57页 |
| ·待测FPGA模块 | 第57-58页 |
| ·C8051设计与实现 | 第58-60页 |
| ·控制FPGA设计与实现 | 第60-78页 |
| ·控制FPGA总体设计 | 第60-62页 |
| ·控制FPGA接口设计 | 第62-68页 |
| ·控制FPGA状态机设计 | 第68-78页 |
| ·控制FPGA数据处理与其它状态机设计 | 第78页 |
| ·功能测试FPGA设计与实现 | 第78-84页 |
| ·功能测试FPGA总体设计 | 第78-80页 |
| ·功能测试FPGA接口设计 | 第80-81页 |
| ·功能测试FPGA状态机设计 | 第81-82页 |
| ·功能测试FPGA测试设计 | 第82-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 第6章 测试实验与结果分析 | 第85-90页 |
| ·待测电路与TMR加固 | 第85-86页 |
| ·测试向量 | 第86页 |
| ·仿真试验 | 第86-88页 |
| ·试验目的与内容 | 第86-87页 |
| ·仿真试验结果与分析 | 第87-88页 |
| ·与辐照试验结果对比与分析 | 第88-89页 |
| ·本章小结 | 第89-90页 |
| 第7章 总结与展望 | 第90-91页 |
| ·总结 | 第90页 |
| ·展望 | 第90-91页 |
| 参考文献 | 第91-93页 |
| 鸣谢 | 第93-94页 |