| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| ·数字集成电路测试系统 | 第9-10页 |
| ·存储器测试 | 第10-13页 |
| ·存储器发展趋势 | 第10-12页 |
| ·测试技术 | 第12-13页 |
| ·可测性设计 | 第13-16页 |
| ·可测性设计概念 | 第13-14页 |
| ·可测性设计方法简介 | 第14-15页 |
| ·嵌入式存储器可测性设计 | 第15-16页 |
| ·本文主要工作 | 第16-17页 |
| 第2章 存储器测试技术 | 第17-41页 |
| ·存储器分类 | 第17-20页 |
| ·只读存储器ROM | 第18页 |
| ·非易失性读写存储器NVRWM | 第18-19页 |
| ·随机存取存储器RAM | 第19-20页 |
| ·顺序存取存储器SAM | 第20页 |
| ·存储器的故障模式 | 第20-24页 |
| ·硬失效 | 第21-22页 |
| ·软失效 | 第22页 |
| ·故障模型 | 第22-24页 |
| ·存储器测试的原理 | 第24-39页 |
| ·存储器的测试方法 | 第24-25页 |
| ·测试算法 | 第25-34页 |
| ·March 算法 | 第34-39页 |
| ·本章小节 | 第39-41页 |
| 第3章 内建自测试(BIST)技术 | 第41-48页 |
| ·BIST 技术 | 第41-44页 |
| ·BIST 电路的结构 | 第42页 |
| ·BIST 的分类 | 第42-44页 |
| ·BIST 的优缺点 | 第44页 |
| ·嵌入式存储器BIST | 第44-47页 |
| ·嵌入式存储器内建自测试技术概述 | 第44-46页 |
| ·MBIST 结构及原理 | 第46-47页 |
| ·本章小节 | 第47-48页 |
| 第4章 基于 MARCH 算法MBIST 设计及仿真 | 第48-56页 |
| ·设计及仿真技术介绍 | 第48-50页 |
| ·EDA 技术 | 第48-49页 |
| ·Max+plusII 简介 | 第49页 |
| ·VHDL 语言 | 第49-50页 |
| ·基于MARCH 算法 MBIST 电路实现 | 第50-52页 |
| ·BIST 控制器 | 第50-51页 |
| ·其它各部分电路 | 第51-52页 |
| ·程序实现及仿真 | 第52-55页 |
| ·本章小节 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第62页 |